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通過輻射發射測試:如何避免采用復雜的EMI抑制技術...-3

2020.10.05

為了減少輻射發射,ADuM5020/ADuM5028具有出色的線圈對稱性和線圈驅動電路,有助于將通過隔離柵的CM電流傳輸最小化。擴頻技術也被用來降低某一特定頻率的噪聲濃度,并將輻射發射能量擴散到更廣泛的頻段。在次級端使用低價的鐵氧體磁珠會進一步減少輻射發射。在RE合規測試期間,這些技術可以改善峰值和準峰值測量水平。

通過輻射發射測試:如何避免采用復雜的EMI抑制技術以實現緊湊、高性價比的隔離設計

圖5 概念ADuM5020和鐵氧體特性曲線。

圖5顯示了放置在靠近VISO和GNDISO引腳的次級端的鐵氧體磁珠。下一段中用于收集輻射發射圖的鐵氧體是Murata BLM15HD182SN1。這些鐵氧體在寬頻率范圍內具有高阻抗(100 MHz時為1800 Ω,1 GHz時為2700 Ω)。這些鐵氧體降低了偶極的有效輻射效率。如圖6所示,因為鐵氧體磁珠的阻抗,CM電流環減小,偶極的有效長度明顯縮短,使得偶極效率降低,輻射發射減少。

通過輻射發射測試:如何避免采用復雜的EMI抑制技術以實現緊湊、高性價比的隔離設計

圖6.使用鐵氧體磁珠來減少有效偶極。

ADuM5020/ADuM5028提供即用型直流-直流電源解決方案。這種解決方案的性價比高、復雜性低,占地面積小,且RE性能出色,如果在設計周期開始時就納入到產品設計中,將有助于滿足EMC法規的要求。

來自測試室的結果

ADuM5020/ADuM5028根據CISPR 22/EN 55022測試指南在10 m半波暗室中進行測試。圖7所示為一個典型的10 m測試室。按照標準規定,ADuM5020/ADuM5028評估PCB被放置在距離天線校準點10 m遠的非導電工作臺上。確保DUT附近沒有其他導電表面,因為這會影響測試結果。圖8顯示了用于確定DUT的高發射頻率的峰值掃描。這些點定位后,就可以進行準峰值測量。在準峰值測量期間,工作臺會旋轉360°,天線高度從1 m升高到4 m。記錄最壞情況的準峰值測量結果,并與限制線要求進行比較。

確保沒有任何外部設備、金屬平面或電纜會干擾DUT的輻射發射測試。為了測試ADuM5020/ADuM5028評估板,使用帶板載低壓差穩壓器的電池來保持較小的電源電流環,并消除不必要的布線。

圖8顯示了在不同配置下捕獲的ADuM5020/ADuM5028的峰值圖。由于在ADuM5020/ADuM5028中采用了擴頻技術,注意寬頻段范圍內的能量擴散情況。圖9顯示了最壞情況的準峰值測量值與CISPR 22/EN 55022 B類限制線相比的裕量。ADuM5020在輸出電源為5 V (500 mW),負載為100 mA的情況下,以超過5 dB的裕量通過了CISPR 22/EN 55022測試。這提供了大幅的設計靈活性。這種裕量幅度很有益,而且推薦達到這種裕量,因為在不同的測試設施中,測試室的質量、校準和設備的精度可能存在差異,可能導致測量結果出現波動。如果最終產品需要在不同的測試室進行測試,且必須符合CISPR 22/EN 55022標準,那么這一點至關重要。

通過輻射發射測試:如何避免采用復雜的EMI抑制技術以實現緊湊、高性價比的隔離設計

圖7.10 m測試室的圖像和評估PCB。

通過輻射發射測試:如何避免采用復雜的EMI抑制技術以實現緊湊、高性價比的隔離設計

圖8.峰值圖—ADuM5020/ADuM5028。

表1.結果

VIN/VISO 5 V/5 V

輸出電流(mA)

最壞情況的準峰值頻率(MHz)

CISPR ? 22 B類準峰值dB?V/m B類裕量(dB)

ADuM5028

50

920

以–6.3裕量通過

ADuM5020

50

935

以-6.9裕量通過

ADuM5028

100

915

以-5.1裕量通過

ADI公司的下一代isoPower系列產品提供緊湊的即用型電源解決方案,無需為了滿足輻射發射限制而采用復雜的PCB級抑制技術。ADuM5020/ADuM5028提供適用于隔離設計的直流-直流即用型電源解決方案,滿足以下輻射發射和產品標準要求:

u ? ? ? ? CISPR 22/EN 55022(B類):信息技術設備

u ? ? ? ? CISPR 11/EN 55011(B類):工業、科學和醫療設備

u ? ? ? ? IEC 61000-6-4:通用標準—工業環境的輻射發射標準

u ? ? ? ? IEC 61000-6-3:通用標準—住宅、商業和輕工業環境的輻射發射標準

u ? ? ? ? IEC 61131-2:可編程控制器—第2部分:設備要求和測試

u ? ? ? ? IEC 621326:用于測量、控制及實驗室用途的電氣設備

u ? ? ? ? EMC要求—第1部分:一般要求

u ? ? ? ? IEC 60601-1-2:醫療電氣設備第1-2部分:基本安全和基本性能的一般要求—附加標準:電磁干擾—要求和測試

u ? ? ? ? IEC 61800-3:變速電力驅動系統—第3部分:EMC要求和具體的測試方法

u ? ? ? ? IEC 63044-5-1:家用和建筑電子系統(HBES)及建筑自動化和控制系統(BACS)—第5-1部分:EMC要求、條件和測試設置

減少隔離設計中的復雜性和矛盾

設計隔離式電源可能是設計過程中最具挑戰性的一個方面。構建一個解決方案需要權衡各種設計需求,且需要遵守全球多個不同地區的法規要求。由此做出的犧牲往往帶來了尺寸、重量和性能方面的負面影響,或者降低了滿足EMC標準的能力。

為了順利滿足EMC標準,可以在設計階段的早期采用已經通過行業標準驗證的器件。EMC應該納入到設計過程中,而不是事后才考慮。采用諸如旁路電容之類的抑制技術會降低電子系統抗瞬變的能力,并增加成本和設計復雜性。ADI公司的下一代isoPower系列產品提供輻射發射抑制技術,無需具備旁路電容,仍可滿足EN 55022/CISPR 22 B類標準要求。ADuM5020/ADuM5028采用擴頻技術,可降低任意頻率下的功率水平。出色的設計、變壓器線圈對稱性和兩個低價小鐵氧體的使用有助于減少跨隔離柵流向次接地層的CM電流。ADM5020/ ADuM5028滿足CISPR 22/EN 55022 B類要求,在2層PCB上具有大幅裕量,無需采用成本高昂的PCB級RE抑制技術,因此可降低成本。

參考文獻

1 “為何50%的產品首次進行EMC測試都以失敗告終。”Intertek。


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