合成二氧化硅晶體的方法
本專題涉及合成二氧化硅晶體的方法的標準有112條。
國際標準分類中,合成二氧化硅晶體的方法涉及到陶瓷、化工產(chǎn)品、非金屬礦、橡膠和塑料用原料、分析化學、半導(dǎo)體分立器件、空氣質(zhì)量、金屬礦、有色金屬、電氣工程綜合、石油產(chǎn)品綜合、無機化學、核能工程、防護設(shè)備、廢物、包裝材料和輔助物。
在中國標準分類中,合成二氧化硅晶體的方法涉及到電子技術(shù)專用材料、化工原料礦、冶金輔助原料礦、生鐵、氧化物、單質(zhì)、催化劑基礎(chǔ)標準與通用方法、重金屬及其合金分析方法、炭黑、稀有金屬及其合金分析方法、鉻礦、非金屬礦綜合、一般有機化工原料、建材原料礦、貴金屬及其合金分析方法、、核材料、核燃料及其分析試驗方法、篩分、篩板與篩網(wǎng)、標志、包裝、運輸、貯存綜合、半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法。
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
行業(yè)標準-商品檢驗,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
韓國科技標準局,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
美國材料與試驗協(xié)會,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
法國標準化協(xié)會,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
行業(yè)標準-化工,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
工業(yè)和信息化部,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
英國標準學會,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- 20/30406234 DC BS IEC 63275-2 Ed.1.0 半導(dǎo)體器件 碳化硅分立金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管的可靠性測試方法 第2部分. 體二極管工作造成的雙極退化的測試方法
- BS EN 17289-2:2020 散裝材料的特性 粒度加權(quán)細顆粒和結(jié)晶二氧化硅含量的測定 計算方法
- BS IEC 63275-1:2022 半導(dǎo)體器件 碳化硅分立金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管的可靠性測試方法 偏置溫度不穩(wěn)定性測試方法
- 19/30380076 DC BS EN 17289-2 散裝材料的表征 粒度加權(quán)細粒部分和結(jié)晶二氧化硅含量的測定 第二部分 計算方法
- BS EN 17289-1:2020 散裝材料的特性 粒度加權(quán)細顆粒和結(jié)晶二氧化硅含量的測定 一般信息和測試方法的選擇
- 19/30380079 DC BS EN 17289-3 散裝材料的表征 粒度加權(quán)細粒部分和結(jié)晶二氧化硅含量的測定 第三部分 沉降方法
- 20/30406230 DC BS IEC 63275-1 半導(dǎo)體器件 碳化硅分立金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管的可靠性測試方法 第1部分.偏置溫度不穩(wěn)定性測試方法
- 19/30380073 DC BS EN 17289-1 散裝材料的表征 粒度加權(quán)細粒部分和結(jié)晶二氧化硅含量的測定 第1部分:一般信息和測試方法的選擇
- BS ISO 5189:2023 精細陶瓷(先進陶瓷、先進技術(shù)陶瓷) 使用電感耦合等離子體光發(fā)射光譜法對二氧化硅粉末中的金屬雜質(zhì)進行化學分析的方法
- BS EN 14046:2003 包裝.在可控合成條件下包裝材料的最大需氧生物降解性和分解的評定.釋放的二氧化碳的分析方法
- PD ISO/TS 21361:2019 納米技術(shù) 混合粉塵制造環(huán)境中納米顆粒尺寸范圍內(nèi)炭黑和無定形二氧化硅空氣濃度的量化方法
國際電工委員會,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- IEC 63275-2:2022 半導(dǎo)體器件.碳化硅分立金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管的可靠性試驗方法.第2部分:由體二極管操作引起的雙極退化的試驗方法
行業(yè)標準-有色金屬,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
AASHTO - American Association of State Highway and Transportation Officials,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
IT-UNI,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
CEN - European Committee for Standardization,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
AT-OVE/ON,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- OVE EN IEC 63275-2:2021 半導(dǎo)體器件-碳化硅分立金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管的可靠性測試方法-第2部分:體二極管操作引起的雙極退化測試方法(IEC 47/2680/CDV)(英文版)
- OVE EN IEC 63275-1:2021 半導(dǎo)體器件 碳化硅分立式金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管的可靠性試驗方法 第1部分:偏置溫度不穩(wěn)定性試驗方法(IEC 47/2679/CDV)(英文版)
丹麥標準化協(xié)會,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
PL-PKN,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
歐洲標準化委員會,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- EN 17289-2:2020 松散材料的表征 尺寸加權(quán)細粒級分和結(jié)晶二氧化硅含量的測定 第2部分:計算方法
- EN 17289-1:2020 散裝材料的表征 尺寸加權(quán)的細小部分和結(jié)晶二氧化硅含量的測定 第1部分:一般信息和測試方法的選擇
- DD ENV 955-4-1997 耐火產(chǎn)品的化學分析 第4部分:含二氧化硅和/或氧化鋁的產(chǎn)品(火焰原子吸收光譜法(FAAS)和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP)分析)
AT-ON,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
CH-SNV,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
立陶宛標準局,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
ES-UNE,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
德國標準化學會,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
內(nèi)蒙古自治區(qū)標準,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
國家質(zhì)檢總局,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
AENOR,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
KR-KS,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
RU-GOST R,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
燃氣加工者協(xié)會,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
海關(guān)總署,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- SN/T 5249-2020 沉淀水合二氧化硅中鐵、錳、銅、鋁、鈦、鉛、鉻、鈣、鎂、鋅、鉀、鈉含量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
國際標準化組織,關(guān)于合成二氧化硅晶體的方法的標準
- ISO/TS 21361:2019 納米技術(shù).混合粉塵制造環(huán)境中納米顆粒范圍內(nèi)炭黑和無定形二氧化硅空氣濃度的量化方法
- ISO/PRF 5189:2023 精細陶瓷(先進陶瓷、先進技術(shù)陶瓷) 采用電感耦合等離子體光發(fā)射光譜法對二氧化硅粉末中金屬雜質(zhì)進行化學分析的方法
- ISO 5189:2023 精細陶瓷(先進陶瓷、先進技術(shù)陶瓷)—采用電感耦合等離子體光發(fā)射光譜法對二氧化硅粉末中金屬雜質(zhì)進行化學分析的方法