掃描電子顯微鏡校準方法
本專題涉及掃描電子顯微鏡校準方法的標準有64條。
國際標準分類中，掃描電子顯微鏡校準方法涉及到長度和角度測量、光學設備、分析化學、教育、詞匯、有色金屬、光學和光學測量、計量學和測量綜合、建筑材料、空氣質量。
在中國標準分類中，掃描電子顯微鏡校準方法涉及到電子光學與其他物理光學儀器、基礎標準與通用方法、放大鏡與顯微鏡、檢驗專用設備、教學專用儀器、教育、學位、學銜、記錄儀器及光線示波器、光學設備、石油地質勘探、石油勘探、開發(fā)與集輸工程綜合、電磁計量、、技術管理、化學計量、油頁巖。
俄羅斯標準局，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- GOST R 8.636-2007 國家測量統(tǒng)一性保證體系.掃描電子顯微鏡.校準方法
- GOST R 8.635-2007 國家測量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.校準方法
上海市標準，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- DB31/T 297-2003 掃描電子顯微鏡放大倍率校準方法
國家計量技術規(guī)范，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規(guī)范
- JJF 1351-2012 掃描探針顯微鏡校準規(guī)范
美國材料與試驗協(xié)會，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準的標準方法
- ASTM E766-98 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
- ASTM E766-98(2003) 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
- ASTM E766-98(2008)e1 掃描電子顯微鏡的放大系數(shù)的標準校正規(guī)范
- ASTM E766-14(2019) 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標準實施規(guī)程
- ASTM E766-14e1 用于校準掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標準實施規(guī)程
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關人工標準指南
行業(yè)標準-機械，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術條件
中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
韓國科技標準局，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- KS D ISO 16700:2013 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗方法通則
- KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－掃描電子顯微鏡－圖像放大率校準指南
- KS D ISO 16700-2023 微束分析掃描電子顯微鏡圖像放大率校準指南
- KS D 2714-2016 橫向力顯微鏡掃描探針顯微鏡方法
- KS D 2714-2021 掃描探針顯微鏡 側向力顯微鏡方法
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D 2714-2016(2021) 掃描探針顯微鏡－側向力顯微鏡法
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術語
國際標準化組織，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
英國標準學會，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- BS ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準指南
- 13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 掃描擴散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準標準
- BS ISO 16700:2016 微束分析 掃描電子顯微鏡 校準圖像放大率的指南
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標記圖像文件格式
- 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- BS ISO 21466:2019 微束分析 掃描電子顯微鏡 CDSEM評估關鍵尺寸的方法
日本工業(yè)標準調查會，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡法.校準圖像放大指南
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS K 3850-1:2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
- JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
法國標準化協(xié)會，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- NF X21-005:2006 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 掃描電子顯微鏡 評價圖像清晰度的方法
- XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 - 掃描電子顯微鏡 - 評估圖像清晰度的方法
行業(yè)標準-教育，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
- JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
行業(yè)標準-石油，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- SY/T 5162-2021 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY/T 5162-1997 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
- SY 5162-2014 巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法
國家計量檢定規(guī)程，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規(guī)程
中國團體標準，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- T/CSTM 00162-2020 透射電子顯微鏡校準方法
巴林國家計量局，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
海灣阿拉伯國家合作委員會標準組織，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO/TS 24597:2013 微束分析 掃描電子顯微鏡 圖像清晰度評價方法
阿曼規(guī)格和計量局，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- OS GSO ISO/TS 24597:2013 微束分析 掃描電子顯微鏡 評估圖像清晰度的方法
國家質檢總局，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- GB/T 18295-2001 油氣儲層砂巖樣品 掃描電子顯微鏡分析方法
SE-SIS，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- SIS SS-ISO 9220:1989 金屬涂層．涂層厚度測量．掃描電子顯微鏡方法
意大利統(tǒng)一標準化組織，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- UNI ISO 9220:1990 金屬覆層 覆層厚度測量 掃描電子顯微鏡方法
行業(yè)標準-商品檢驗，關于掃描電子顯微鏡校準方法的標準
- SN/T 4388-2015 皮革鑒定 掃描電鏡和光學顯微鏡法
