延遲 時間 測試
本專題涉及延遲 時間 測試的標準有18條。
國際標準分類中，延遲 時間 測試涉及到光電子學、激光設備、攝影技術、建筑附件、音頻、視頻和視聽工程、半導體分立器件、燃料。
在中國標準分類中，延遲 時間 測試涉及到半導體光敏器件、照相機與照相器具、音響、電聲設備、人造石油。
行業標準-電子，關于延遲 時間 測試的標準
- SJ 2215.11-1982 半導體光耦合器脈沖、上升、下降、延遲、貯存時間的測試方法
國際標準化組織，關于延遲 時間 測試的標準
- ISO 15781:2019 攝影-數碼相機-測量拍攝時間延遲、快門釋放時間延遲、拍攝速率和啟動時間延遲
- ISO 15781:2015 攝影.數碼相機.攝影時間延遲,快門釋放時間延遲,攝影速度和啟動時間測量
- ISO 15781:2013 攝影.數碼相機.攝影時間延遲,快門釋放時間延遲,攝影速度和啟動時間測量
CZ-CSN，關于延遲 時間 測試的標準
- CSN 66 8226-1976 電子類管的時間延遲測試
英國標準學會，關于延遲 時間 測試的標準
- BS ISO 15781:2013 攝影.數碼相機.攝影時間延遲、快門釋放時間延遲、攝影速度和啟動時間的測量
- BS ISO 15781:2015 攝影.數碼相機.攝影時間延遲、快門釋放時間延遲、攝影速度和啟動時間的測量
SCC，關于延遲 時間 測試的標準
- ULC-S337-1998(R2016) 延遲動作時間鎖標準
- MIL MIL-PRF-83726/31L-2019 繼電器 混合型 時間延遲（釋放時） B 類 IIA 型 密封 DPDT 10 安培 可調時間延遲（外部電阻） 0.1 至 500 秒
- MIL MIL-PRF-83726/31G-2011 繼電器 混合型 時間延遲（釋放時） B 類 IIA 型 密封 DPDT 10 安培 可調時間延遲（外部電阻） 0.1 至 500 秒
- MIL MIL-PRF-83726/31J-2013 繼電器 混合型 時間延遲（釋放時） B 類 IIA 型 密封 DPDT 10 安培 可調時間延遲（外部電阻） 0.1 至 500 秒
- MIL MIL-PRF-83726/31K-2018 繼電器 混合型 時間延遲（釋放時） B 類 IIA 型 密封 DPDT 10 安培 可調時間延遲（外部電阻） 0.1 至 500 秒
- MIL MIL-PRF-83726/31F-2009 繼電器 混合型 時間延遲（釋放時） B 類 IIA 型 密封 DPDT 10 安培 可調時間延遲（外部電阻） 0.1 至 500 秒
- MIL MIL-PRF-83726/31H-2012 繼電器 混合型 時間延遲（釋放時） B 類 IIA 型 密封 DPDT 10 安培 可調時間延遲（外部電阻） 0.1 至 500 秒
國家質檢總局，關于延遲 時間 測試的標準
- GB/T 6449-1986 時間延遲和移頻裝置測量方法
GSO，關于延遲 時間 測試的標準
- GSO ISO 15781:2015 攝影 數碼相機 測量快門延遲、快門釋放延遲、快門速率和開始時間
RU-GOST R，關于延遲 時間 測試的標準
- GOST 19138.4-1973 晶閘管.接通、上升和延遲時間測定方法
歐洲標準化委員會，關于延遲 時間 測試的標準
- EN 16715:2015 液體石油產品.點火延遲時間的測定及衍生十六烷值（DCN）中間餾分燃料的著火延遲期和燃燒利用定容燃燒室的燃料直接噴射延遲時間的測定
