電子 電子顯微鏡
本專題涉及電子 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)有24條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子 電子顯微鏡涉及到分析化學(xué)、空氣質(zhì)量、光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測量。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子 電子顯微鏡涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、公共醫(yī)療設(shè)備、化學(xué)試劑綜合、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、放大鏡與顯微鏡。
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電子 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法
- ISO 19214:2017 微束分析. 分析電子顯微術(shù). 采用透射電子顯微鏡術(shù)測定絲狀晶體顯著增長方向的方法
- ISO 25498:2010 微光束分析.解析電子顯微測定法.透射式電子顯微鏡對選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
- ISO 25498:2018 微光束分析.解析電子顯微測定法.透射式電子顯微鏡對選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
- ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
- ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于電子 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 25498:2018 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- 24/30474499 DC BS ISO 19214 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式
- BS ISO 25498:2010 微光束分析.解析電子顯微測定法.透射式電子顯微鏡對選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析
- BS ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準(zhǔn)指南
- BS ISO 23420:2021 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測定方法
GSO，關(guān)于電子 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 25498:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- OS GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- GSO ISO 24639:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜法元素分析能級的校準(zhǔn)程序
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于電子 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E2090-00 利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
- ASTM E2090-12 利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 16700:2013 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于電子 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- NF X21-005:2006 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于電子 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 18907-2002 透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法
