鍍層厚度
本專題涉及鍍層厚度的標準有106條。
國際標準分類中，鍍層厚度涉及到包裝材料和輔助物、表面處理和鍍涂、長度和角度測量、建筑材料、電線和電纜。
在中國標準分類中，鍍層厚度涉及到包裝方法、材料防護、其他日用品、基礎(chǔ)標準與通用方法、電容器、稀有金屬及其合金分析方法、、日用五金制品。
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關(guān)于鍍層厚度的標準
- GB/T 15717-2021 真空金屬鍍層厚度測試方法 電阻法
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于鍍層厚度的標準
- GB/T 15717-1995 真空金屬鍍層厚度測試方法 電阻法
- GB/T 13744-1992 磁性和非磁性基體上鎳電鍍層 厚度的測量
日本工業(yè)標準調(diào)查會，關(guān)于鍍層厚度的標準
- JIS H 8501:1988 鍍層厚度試驗方法
丹麥標準化協(xié)會，關(guān)于鍍層厚度的標準
- DS/ISO 4518:2021 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 輪廓法
- DS/ISO 1463:1983 金屬和氧化物鍍層. 鍍層厚度的測定. 顯微鏡法
- DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- DS/ISO 2178:1983 磁性基質(zhì)的非磁性鍍層. 鍍層厚度的測量. 磁性法
- DS/ISO 2177:1986 金屬鍍層. 鍍層厚度的測量. 陽極分解的電量計法
- DS/ISO 2360:1983 非磁性基體金屬上的非導(dǎo)體鍍層. 鍍層厚度的測量. 渦流法
- DANSK DS/EN ISO 2361:1995 磁性和非磁性基材上的電沉積鎳鍍層 鍍層厚度測量 磁性法
- DS/ISO 14571:2020 非金屬基體材料上的金屬鍍層 鍍層厚度的測量 微電阻率法
韓國科技標準局，關(guān)于鍍層厚度的標準
- KS D ISO 4518-2012(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量輪廓法
- KS D 8544-2016 金屬鍍層鍍層厚度測量鍍層透射電鏡法
- KS D 0246-2021 金屬鍍層厚度測試方法
- KS D 0246-2016 金屬鍍層厚度試驗方法
- KS D ISO 3497-2002(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量X射線光譜法
- KS D ISO 4519:2009 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.表面光法度輪廓儀法
- KS D ISO 9220-2009(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D 8519-2009 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- KS D ISO 3497:2002 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法
- KS D ISO 9220-2009(2017) 金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法
- KS D ISO 2178:2002 磁性基質(zhì)的非磁性鍍層.鍍層厚度的測量.磁性法
- KS D ISO 2361:2015 磁性和非磁性基質(zhì)的鎳電鍍層 鍍層厚度的測量 磁性法
- KS D ISO 2361:2004 磁性和非磁性基質(zhì)的鎳電鍍層.鍍層厚度的測量.磁性法
- KS D ISO 2361-2015(2020) 磁性和非磁性基體上的電沉積鎳鍍層鍍層厚度的測量磁性法
- KS D ISO 2361-2020 磁性和非磁性基材上的電沉積鎳鍍層 鍍層厚度的測量 磁性法
- KS D ISO 9220:2009 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
行業(yè)標準-輕工，關(guān)于鍍層厚度的標準
- QB/T 1912-1993 眼鏡架金屬鍍層厚度測試方法 X熒光光譜法
- QB/T 3815-1999 輕工產(chǎn)品金屬鍍層的厚度測試方法.計時液流法
- QB/T 3818-1999 輕工產(chǎn)品金屬鍍層的厚度測試方法.點滴法
行業(yè)標準-電子，關(guān)于鍍層厚度的標準
- SJ/T 11111-1996 金屬覆蓋層 銀和銀合金電鍍層試驗方法 第1部分：鍍層厚度的測定
- SJ 20129-1992 金屬鍍覆層厚度測量方法
法國標準化協(xié)會，關(guān)于鍍層厚度的標準
- NF A91-114:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.表面光度儀法
- NF A91-116*NF EN ISO 3497:2001 金屬鍍層.鍍層厚度的測定.X射線光譜法
- NF A91-110:1995 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物鍍層. 鍍層厚度的測量. 顯微鏡法
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
- NF A91-110:2004 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測量.顯微鏡法
- NF A91-108:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
- NF A91-111:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.陽極分解的電量計法
- NF A91-112:1995 磁性基體的非磁性鍍層.鍍層厚度的測量.磁性法
- NF A91-120*NF EN ISO 2361:1995 磁性和非磁性基體的鎳電積鍍層.鍍層厚度的測量.磁性法
- NF A91-113:1995 非磁性基體金屬上的不導(dǎo)電鍍層.鍍層厚度的測量.渦流法
- NF A91-116:1976 金屬鍍層.厚度的測量.用X射線光譜術(shù)
- NF A91-109*NF EN ISO 3882:2003 金屬和其它無機物鍍層.厚度測量方法述評
ECIA - Electronic Components Industry Association，關(guān)于鍍層厚度的標準
- CB-13-1990 X 射線熒光測量鍍層厚度
英國標準學(xué)會，關(guān)于鍍層厚度的標準
- BS EN ISO 9220:1989 金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- BS EN ISO 2361:1984 磁性和非磁性基體的鎳電鍍層.鍍層厚度的測量.磁性法
- BS EN ISO 14571:2022(2023) 非金屬基材上的金屬鍍層 鍍層厚度的測量 微電阻率法
德國標準化學(xué)會，關(guān)于鍍層厚度的標準
- DIN EN ISO 4518 E:2020-06 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 外形測定法（草案）
- DIN EN ISO 3497:2001 金屬鍍層.鍍層厚度測量.X射線光譜測定法
- DIN EN ISO 1463:2004 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- DIN EN ISO 2178 E:2015-01 磁性基質(zhì)上的非磁性鍍層 鍍層厚度的測量 磁性法（草案）
- DIN EN ISO 4518:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.外形測定法 (ISO 4518:1980); 德文版本 EN ISO 4518:1995
挪威標準，關(guān)于鍍層厚度的標準
- NS 1182-1979 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 陽極溶液庫侖法
行業(yè)標準-航天，關(guān)于鍍層厚度的標準
- QJ 478-1990 金屬鍍覆層厚度測量方法
歐洲標準化委員會，關(guān)于鍍層厚度的標準
- EN ISO 1463:2021 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- EN ISO 4518:2021 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.表面光法度輪廓儀法
- EN ISO 1463:1994 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- EN ISO 4518:1995 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.表面光法度輪廓儀法(ISO 4518-1990)
- EN ISO 1463:2004 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法 ISO 1463-2003
- prEN ISO 9220:2021 金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
- EN ISO 2178:1995 磁性基質(zhì)的非磁性鍍層.鍍層厚度的測量.磁性法(ISO 2178-1982)
- EN ISO 2361:1995 磁性和非磁性基質(zhì)的鎳電鍍層.鍍層厚度的測量.磁性法(ISO 2361-1982)
- EN ISO 9220:2022 金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法
- prEN ISO 2361 磁性和非磁性基材上沉積鎳鍍層 鍍層厚度的測量 磁法（ISO/DIS 2361：2024）
美國電子元器件、組件及材料協(xié)會，關(guān)于鍍層厚度的標準
- ECA CB-13-1990 鍍層厚度測定的X射線熒光
南非標準局，關(guān)于鍍層厚度的標準
- SANS 4518:1980 金屬鍍層．鍍層厚度的測量．表面光法度輪廓儀法
- SANS 3497:1990 金屬鍍層．鍍層厚度的測定．X射線光譜測定法
- SANS 2177:1986 金屬鍍層．鍍層厚度的測量．陽極分解的電量計法
- SANS 2361:1982 磁性和非磁性基質(zhì)的鎳電鍍層．鍍層厚度的測量．磁性法
PL-PKN，關(guān)于鍍層厚度的標準
- PN C81515-1974 油漆．非破壞鍍層厚度的測量
國際標準化組織，關(guān)于鍍層厚度的標準
- ISO 1463:1982 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- ISO 1463:1973 金屬和氧化物鍍層.鍍層厚度的測定.顯微鏡法
- ISO 3497:1990 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法
- ISO 2177:1985 金屬鍍層.鍍層厚度的測量.陽極分解的電量計法
- ISO 2361:1982 磁性和非磁性基體上的鎳電鍍層 鍍層厚度的測量 磁性法
- ISO 2361:1972 磁性和非磁性基體上的鎳電鍍層 鍍層厚度的測量 磁性法
- ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 鍍層厚度的測量 X射線光譜法
- ISO 9220:1988 金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法
YU-JUS，關(guān)于鍍層厚度的標準
- JUS C.A6.031-1990 金屬和氧化物鍍層．鍍層厚度的測定．顯微鏡法
- JUS C.A6.035-1989 非磁性基體金屬上的非導(dǎo)體鍍層．鍍層厚度的測量．渦流法
IPC - Association Connecting Electronics Industries，關(guān)于鍍層厚度的標準
- IPC TR-586-2009 浸銀鍍層厚度 Round Robin Investigation Data Set Compendium
行業(yè)標準-機械，關(guān)于鍍層厚度的標準
- JB/T 10534-2005 多層鎳鍍層.各層厚度和電化學(xué)電位.同步測定法
VN-TCVN，關(guān)于鍍層厚度的標準
- TCVN 5878-2007 磁性基質(zhì)的非磁性鍍層.鍍層厚度的測量.磁性法
- TCVN 5877-1995 磁性和非磁性基質(zhì)的鎳電鍍層.鍍層厚度的測量.磁性法
意大利統(tǒng)一標準化組織，關(guān)于鍍層厚度的標準
- UNI EN ISO 1463:1998 金屬鍍層和氧化層 鍍層厚度測量 顯微方法
- UNI EN ISO 1463:2006 金屬鍍層和氧化層 鍍層厚度測量 顯微測定法
- UNI ISO 4524-1:1987 金屬鍍層 電沉積金和合金鍍層的試驗方法 鍍層厚度的測定
ISUZU - Isuzu Motors Ltd.，關(guān)于鍍層厚度的標準
- ISC-F10-001-1978 鍍層厚度測量方法（日文版/英文版）
立陶宛標準局，關(guān)于鍍層厚度的標準
- LST EN ISO 9220:2001 金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）
IN-BIS，關(guān)于鍍層厚度的標準
- IS 12434-1988 涂層/鍍層厚度測試儀規(guī)范 破壞性類型
- IS 12860-1989 X射線熒光技術(shù)法測定金屬鍍層厚度
AT-ON，關(guān)于鍍層厚度的標準
- OENORM EN ISO 9220:2021 金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
中國團體標準，關(guān)于鍍層厚度的標準
- T/QGCML 4674-2024 鍍鋅鋼絞線鍍層厚度及亮度控制技術(shù)規(guī)范
美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于鍍層厚度的標準
- ASTM B659-90(2003) 金屬和無機物鍍層厚度的測量方法
- ASTM B504-90(1997) 用庫侖法測量金屬鍍層厚度的試驗方法
- ASTM B504-90(2007) 用庫侖法測量金屬鍍層厚度的試驗方法
- ASTM B504-90(2002) 用庫侖法測量金屬鍍層厚度的試驗方法
- ASTM B529-70 用渦流試驗方法測量鍍層厚度的標準方法
TR-TSE，關(guān)于鍍層厚度的標準
- TS 2674-1977 非磁性基體金屬上的非導(dǎo)體鍍層．鍍層厚度的測量．渦流法
- TS 3181-1978 金屬覆蓋層 鍍層厚度的測量．X射線光譜法
BE-NBN，關(guān)于鍍層厚度的標準
- NBN-EN ISO 2177:1995 金屬鍍層．鍍層厚度的測量．陽極溶液里的庫侖分析法（ISO 2177：1985）
阿曼規(guī)格和計量局，關(guān)于鍍層厚度的標準
- OS GSO ISO 2361:2013 磁性和非磁性基材上的電沉積鎳鍍層 鍍層厚度的測量 磁性法
(美國)福特汽車標準，關(guān)于鍍層厚度的標準
- FORD FLTM BQ 003-05-2000 黑鉻鍍層的厚度的測定
