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電工電子產品(環境試驗)

本專題涉及電工電子產品(環境試驗)的標準有87條。

國際標準分類中,電工電子產品(環境試驗)涉及到環境試驗、試驗條件和規程綜合、長度和角度測量、電氣工程綜合、造船和海上構筑物綜合、電工和電子試驗。

在中國標準分類中,電工電子產品(環境試驗)涉及到基礎標準和通用方法、基礎標準與通用方法、環境條件與通用試驗方法。


國家質檢總局,關于電工電子產品(環境試驗)的標準

  • GB/T 2422-1995 電工電子產品環境試驗 術語
  • GB/T 2424.2-2005 電工電子產品環境試驗 濕熱試驗導則
  • GB/T 2421.1-2008 電工電子產品環境試驗.概述和指南
  • GB/T 2424.5-2006 電工電子產品環境試驗溫度試驗箱性能確認
  • GB/T 2424.19-2005 電工電子產品環境試驗 模擬貯存影響的環境試驗導則
  • GB/T 2421-1999 電工電子產品環境試驗 第1部分;總則
  • GB/T 2424.15-2008 電工電子產品環境試驗.溫度/低氣壓綜合試驗導則
  • GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗A: 低溫
  • GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗B:高溫
  • GB/T 2424.6-2006 電工電子產品環境試驗溫度/濕度試驗箱性能確認
  • GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗M:低氣壓
  • GB/T 5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法.溫度試驗設備
  • GB/T 5170.5-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法.濕熱試驗設備
  • GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法.總則
  • GB/T 5170.8-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法.鹽霧試驗設備
  • GB/T 2423.28-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗T:錫焊
  • GB/T 2423.17-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分: 試驗方法.試驗Ka:鹽霧
  • GB/T 2423.23-1995 電工電子產品環境試驗 試驗Q:密封
  • GB/T 2423.101-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗:傾斜和搖擺
  • GB/T 2423.16-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗J及導則:長霉
  • GB/T 2423.22-2002 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗N: 溫度變化
  • GB/T 2423.8-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Ed:自由跌落
  • GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
  • GB/T 2424.13-2002 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 溫度變化試驗導則
  • GB/T 2423.45-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Z/ABDM:氣候順序
  • GB/T 2423.1-2001 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗A: 低溫
  • GB/T 2423.55-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Eh:錘擊試驗
  • GB/T 2424.7-2006 電工電子產品環境試驗試驗A和B(帶負載)用溫度試驗箱的測量
  • GB/T 2423.6-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Eb和導則; 碰撞
  • GB/T 2424.25-2000 電工電子產品環境試驗 第3部分:試驗導則 地震試驗方法
  • GB/T 2424.26-2008 電工電子產品環境試驗.第3部分:支持文件和導則.振動試驗選擇
  • GB/T 2423.54-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Xc:流體污染
  • GB/T 2423.42-1995 電工電子產品環境試驗低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法
  • GB/T 2423.39-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Ee:彈跳
  • GB/T 2424.17-1995 電工電子產品環境試驗 錫焊試驗導則
  • GB/T 13951-1992 移動式平臺及海上設施用電工、電子產品環境試驗一般要求
  • GB/T 2423.37-2006 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L:沙塵試驗
  • GB/T 2423.33-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗
  • GB/T 2423.10-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分: 試驗方法.試驗Fc: 振動(正弦)
  • GB/T 2423.52-2003 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗77:結構強度與撞擊
  • GB/T 5170.5-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 濕熱試驗設備
  • GB/T 2424.17-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗T:錫焊試驗導則
  • GB/T 5170.9-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法.太陽輻射試驗設備
  • GB/T 2423.48-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Ff:振動-時間歷程法
  • GB/T 2423.44-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eg:撞擊 彈簧錘
  • GB/T 2423.15-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分: 試驗方法.試驗Ga和導則: 穩態加速度
  • GB/T 2423.26-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
  • GB/T 2424.14-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 太陽輻射試驗導則
  • GB/T 2423.18-2000 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗 試驗Kb:鹽霧, 交變(氯化鈉溶液)
  • GB/T 5170.20-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 水試驗設備
  • GB/T 2423.34-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Z/AD;溫度/濕度組合循環試驗
  • GB/T 2423.32-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Ta: 潤濕稱量法可焊性
  • GB/T 2423.25-2008 電工電子產品 環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
  • GB/T 5170.8-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢頂方法 鹽霧試驗設備
  • GB/T 5170.9-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 太陽輻射試驗設備
  • GB/T 5170.11-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 腐蝕氣體試驗設備
  • GB/T 5170.2-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備
  • GB/T 2423.15-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Ga和導則: 穩態加速度
  • GB/T 2423.57-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗Ei: 沖擊.沖擊響應譜合成
  • GB/T 2423.49-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fe:振動--正弦拍頻法
  • GB/T 2423.5-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Ea和導則;沖擊
  • GB/T 2424.24-1995 電工電子產品環境試驗 溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗導則
  • GB/T 2423.16-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗J和導則: 長霉
  • GB/T 2423.24-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Sa: 模擬地面上的太陽輻射
  • GB/T 2423.10-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Fc和導則: 振動(正弦)
  • GB/T 2423.27-2020 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗
  • GB/T 2423.9-2001 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Cb: 設備用恒定濕熱
  • GB/T 5170.19-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗設備
  • GB/T 5170.1-1995 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 總則
  • GB/T 2423.2-2001 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗B: 高溫
  • GB/T 2423.59-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗.Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(隨機)綜合
  • GB/T 5170.21-2008 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢驗方法.振動(隨機)試驗用液壓振動臺
  • GB/T 2423.102-2008 電工電子產品環境試驗.第2部分:試驗方法.試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合
  • GB/T 2423.40-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
  • GB/T 5170.10-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 高低溫低氣壓試驗設備
  • GB/T 2423.27-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗
  • GB/T 2423.48-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Ff: 振動--時間歷程法
  • GB/T 2423.35-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗
  • GB/T 5170.14-2009 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢驗方法.振動(正弦)試驗用電動振動臺
  • GB/T 2423.11-1997 電工電子產品環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fd: 寬頻帶隨機振動--一般要求
  • GB/T 2423.30-1999 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗XA和導則:在清洗劑中浸漬
  • GB/T 2423.36-2005 電工電子產品環境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會,關于電工電子產品(環境試驗)的標準

  • GB/T 5170.5-2016 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 第5部分:濕熱試驗設備
  • GB/T 5170.1-2016 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 第1部分:總則

韓國科技標準局,關于電工電子產品(環境試驗)的標準





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