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GB 35007-2018
半導體集成電路低電壓差分信號電路測試方法

Semiconductor integrated circuit low voltage differential signal circuit testing method


標準號
GB 35007-2018
發布
2018年
總頁數
37頁
發布單位
國家質檢總局
當前最新
GB 35007-2018
 
 
適用范圍
本標準規定了半導體集成電路低電壓差分信號電路靜態參數、動態參數測試方法的基本原理。本標準適用于低電壓差分信號電路靜態參數、動態參數的測試。
術語描述
脈沖時滯
pulse skew
同一通道內,輸出由低電平到高電平的傳輸延遲時間與輸出由高電平到低電平傳輸延遲時間的差值。
通道間時滯
channel-to-channel skew
針對多通道器件,不同通道間傳輸延遲時間的差值。
眼圖
eye diagram
用余輝的方式累計疊加顯示采集到的串行信號的比特流的結果,疊加后的圖形為眼孔狀。

GB 35007-2018 中提到的儀器設備

示波器 測量電路中電壓隨時間變化的波形,用于分析眼圖和抖動等動態特性。
測試系統 用于半導體集成電路參數測試的專業設備,包括信號發生器、示波器等組件。

專題


GB 35007-2018相似標準





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