本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了透射電子顯微鏡的分辨力測試的技術(shù)要求、測試用樣品、設(shè)備和測試方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于電鏡分辨力的測試。
利用CTAPHAN 500 CT性能檢測模體的CTP515測試插件進(jìn)行檢測。 CTP515組成: 直徑15cm,厚4cm 內(nèi)外兩組低密度孔徑結(jié)構(gòu)(放射狀分布) 內(nèi)層孔陣:對比度0.3%、0.5%、1.0%;直徑3、5、7、9mm 外層孔陣:對比度0.3%、0.5...
1 范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了工業(yè)CT系統(tǒng)分辨力測試模體的術(shù)語和定義、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存。本標(biāo)準(zhǔn)適用于X射線工業(yè)斷層成像系統(tǒng)分辨力測試模體(以下簡稱為產(chǎn)品)。2 規(guī)范性引用文件下列文件對于本文件的應(yīng)用是*的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用...
因電子束穿透樣品后,再用電子透鏡成像放大而得名。它的光路與光學(xué)顯微鏡相仿,可以直接獲得一個(gè)樣本的投影。通過改變物鏡的透鏡系統(tǒng)人們可以直接放大物鏡的焦點(diǎn)的像。由此人們可以獲得電子衍射像。使用這個(gè)像可以分析樣本的晶體結(jié)構(gòu)。在這種電子顯微鏡中,圖像細(xì)節(jié)的對比度是由樣品的原子對電子束的散射形成的。由于電子...
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM),是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如...
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