AWWA ACE56156
使用平板掃描儀和掃描電子顯微鏡評(píng)估膜表面污染模式

Evaluation of Membrane Surface Fouling Patterns Using a Flatbed Scanner and Scanning Electron Microscope

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

AWWA ACE56156

發(fā)布

1970年

發(fā)布單位

SCC

當(dāng)前最新

AWWA ACE56156

 

 

適用范圍

解開(kāi)膜污染許多原因的關(guān)鍵可以直接來(lái)自對(duì)膜表面本身的密切評(píng)估。沉積物會(huì)積聚在膜表面，可用于識(shí)別它們本身。這些沉積物的位置和濃度有助于了解通過(guò)螺旋纏繞元件和進(jìn)水墊片的流體動(dòng)力學(xué)。作為定量研究的一部分，對(duì) Osmonics DESAL 制造的 12 個(gè) DL4040C（直徑 4.0 x 長(zhǎng)度 40.0）螺旋纏繞膜元件進(jìn)行了解剖和檢查，以確定哪些表面圖案可能是天然有機(jī)物 (NOM) 和顆粒污染的特征。實(shí)驗(yàn)是在摻入濃縮 NOM 和顆粒的水中進(jìn)行的。測(cè)試了四種 NOM 濃度（即 0、5、15 和 25 mg/L 總有機(jī)碳或 TOC）和三種粒徑范圍（即無(wú)添加輔助顆粒、0.5-1.0 微米顆粒和 >1.0 微米顆粒），總共進(jìn)行了 12 次實(shí)驗(yàn)。每個(gè)實(shí)驗(yàn)都使用新的螺旋纏繞元件進(jìn)行，測(cè)試后立即解剖。進(jìn)行了兩種類型的膜表面評(píng)估：視覺(jué)和顯微鏡評(píng)估。視覺(jué)評(píng)估是通過(guò)使用平板掃描儀將膜葉（8.5 x 11 英寸）的切片直接掃描到計(jì)算機(jī)中進(jìn)行的。使用 Adobe PhotoShop 增強(qiáng)和放大圖像。對(duì)從膜葉上切下的樣本進(jìn)行顯微鏡評(píng)估，并在掃描電子顯微鏡 (SEM) 下觀察。與 SEM 結(jié)合，能量色散光譜法用于生成光譜以確認(rèn) NOM 沉積物以及識(shí)別礦物沉積物。為清晰起見(jiàn)，將 SEM 顯微照片插入每個(gè)相應(yīng)的光譜中作為參考點(diǎn)。包括 2 個(gè)參考資料、圖片。

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