GB/T 25897-2020
剩余電阻比測量 鈮-鈦（Nb-Ti）和鈮三錫（Nb3Sn）復合超導體剩余電阻比測量
Residual resistance ratio measurement—Residual resistance ratio of Nb-Ti and Nb3Sn composite superconductors
GBT25897-2020, GB25897-2020
- 標準號
- GB/T 25897-2020
- 別名
- GBT25897-2020, GB25897-2020
- 發布
- 2020年
- 總頁數
- 28頁
- 采用標準
- IEC 61788-4:2020 IDT
- 發布單位
- 國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會
- 當前最新
- GB/T 25897-2020
- 被代替標準
- GB/T 25897-2010
- 適用范圍
- 本標準規定了無應變、無外加磁場條件下銅(Cu)、銅-鎳(Cu -Ni)、銅/銅-鎳(Cu/Cu -Ni)基體和鋁(Al)基體的鈮-鈦(Nb -Ti)和鈮三錫(Nb3Sn)復合超導體剩余電阻比(RRR)的測試方法。本標準適用于2
GB/T 25897-2020 中提到的儀器設備
| 圓柱形樣品架 用于測量線圈形Nb-Ti樣品，直徑需足夠大以確保樣品的彎曲應變不超過2%。 | 由銅(Cu)、鋁(Al)、銀(Ag)或其他在液氦溫度下熱導率等于或大于100W/(m·K)的材料制成。 |
| 平板狀樣品架 用于測量直線形Nb-Ti或Nb3Sn樣品，長度至少為30mm。 | 確保Nb3Sn樣品在無應變或僅在可允許的熱應變條件下進行測量。 |
| 低溫恒溫容器 包括樣品支撐結構和液氦容器，支持樣品的浸沒和提出。 | 用于測量低溫電阻(R2)，確保電流通過樣品并測量電壓。 |