BS ISO 17862:2022
表面化學分析 二次離子質譜分析 單離子計數飛行時間質量分析儀中強度標度的線性
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
- 標準號
- BS ISO 17862:2022
- 發布
- 2022年
- 總頁數
- 28頁
- 發布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS ISO 17862:2022
- 適用范圍
- 范圍 本文件規定了一種方法，用于確定單離子計數飛行時間 (TOF) 二次離子質譜儀中強度尺度線性可接受偏差極限的最大計數率，使用基于光譜中同位素比率的測試由聚四氟乙烯 (PTFE) 制成。它還包括一種方法，用于校正因微通道板 (MCP) 或閃爍體和光電倍增管的強度損失而產生的強度非線性，隨后是時間數字轉換器 (TDC) 檢測系統，該系統是由二次離子在其死區時間內到達引起的。校正可以將 95% 線性度的強度范圍增加高達 50 倍以上，以便對于那些已證明相關校正公式有效的光譜儀可以采用更高的最大計數率。