KS C IEC TS 62607-6-1-2022
納米制造.關鍵控制特性.第6-1部分:石墨烯基材料.體積電阻率:四探針法

Nanomanufacturing — Key control characteristics — Part 6-1: Graphene-based material — Volume resistivity: four probe method

標準號

KS C IEC TS 62607-6-1-2022

發布

2022年

發布單位

韓國科技標準局

當前最新

KS C IEC TS 62607-6-1-2022

 

 

介紹

該標準涉及納米制造領域中關鍵控制特性的一部分，具體針對石墨烯基材料的體積電阻率測試方法。它采用四探針法進行測量，并提供了詳細的實驗步驟和要求，以確保測試結果的一致性和準確性。

***此介紹可能不準確，請注意參考原文。

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