ASTM STP 257-1959
ASTM STP 257-1959
Symposium on Microscopy
- 標準號
- ASTM STP 257-1959
- 發布
- 1959年
- 總頁數
- 180頁
- 發布單位
- 美國材料與試驗協會
- 當前最新
- ASTM STP 257-19
-
標準名稱:顯微鏡學研討會
適用范圍:本次研討會旨在覆蓋光和電子顯微鏡領域的最新發展，并探討這些科學方法在實驗室研究和工業生產中的有效應用。此外，會議還傳播了進步的知識并強調了持續改進和優化顯微技術的必要性。該研討會補充了1952年由ASTM E-1委員會贊助的關于光學顯微鏡的研討會（ASTM STP 143）。論文及其討論在1959年6月21日至26日在新澤西州奧蘭治城舉行的第62屆年度會議上進行了第三十屆、第三十三屆和第三十四次會議的展示。
盡管一些設備的使用揭示了更嚴格的準備程序的需求，但這些技術的進步也促進了樣本制備技術的改進。特別是在電子顯微鏡這種新技術中，對樣品的要求更為嚴格，如足夠的薄度以允許電子穿透、對高真空和電子轟擊的抵抗力等。
這些限制得到了極大的克服，表現為大量關于電子顯微鏡的文獻出現。在樣本制備技術和儀器操作方面所需技術的重要性不容忽視。確實可以說，在新顯微鏡進入領域并成為日常工具之前，它們的全部潛力是無法實現的。
對于新設備來說，必須經過一段時間才能找到最佳使用方法。但對于新型設備而言，廣泛的背景經驗和對顯微鏡領域的熟悉將“物有所值”。早期電子顯微鏡的歷史就是這樣一個例子，熟悉過去的工作至關重要。