GB/T 42208-2022
納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測(cè)量透射電鏡圖像法

Nanotechnologies—Measurement of nanoparticle size in multiphase system—Image method of transmission electron microsopy

適用范圍: 本文件描述了利用透射電子顯微鏡圖像處理和分析技術(shù)進(jìn)行納米顆粒在多相體系中分散的粒徑測(cè)量方法。本文件適用于固相多相體系中納米顆粒的粒徑測(cè)量和粒徑分布。本文件也適用于在樣品制備滿足透射電子顯微鏡觀察要求時(shí)的膠體和生物組織中納米顆粒粒徑測(cè)量。

術(shù)語(yǔ)	描述
納米顆粒 Nanoparticles	粒度為1nm~100nm范圍的固體顆粒。
分散 Disperse	納米顆粒在多相體系中散開(kāi)分布的過(guò)程。
明場(chǎng)像 Bright field image	一種透射電子顯微鏡技術(shù)，通過(guò)透射波成像獲得樣品的清晰影像。
暗場(chǎng)像 Dark field image	一種透射電子顯微鏡技術(shù)，通過(guò)衍射波成像觀察樣品中的特定結(jié)構(gòu)。

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透射電子顯微鏡場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡, 最高加速電壓200kV	用于納米顆粒的觀察和成像，分辨率可達(dá)0.1nm。
超薄切片機(jī)	用于制備透射電子顯微鏡樣品的超薄切片。