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20/30406234 DC
BS IEC 63275-2 Ed.1.0 半導體器件 碳化硅分立金屬氧化物半導體場效應晶體管的可靠性測試方法 第2部分. 體二極管工作造成的雙極退化的測試方法

BS IEC 63275-2 Ed.1.0. Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors. Part 2. Test method for bipolar degradation by body diode operating


標準號
20/30406234 DC
發布
2020年
發布單位
英國標準學會
當前最新
20/30406234 DC
 
 

專題


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