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IEC 61967-6:2002/AMD1:2008
集成電路.150kHz至1GHz電磁發射的測量.第6部分:傳導發射的測量.磁探針法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

被代替

2010-09

標準號: IEC 61967-6:2002/AMD1:2008
發布: 2008年
發布單位: 國際電工委員會
替代標準: IEC 61967-6:2002/COR1:2010
當前最新: IEC 61967-6:2002/COR1:2010

專題

集成電路電磁發射

IEC 61967-6:2002/AMD1:2008相似標準

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