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NF EN 60749-40:2012
半導體器件 - 機械和氣候測試方法 - 第 40 部分：使用應變儀的板級跌落測試方法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board-level drop test method using a strain gauge

標準號: NF EN 60749-40:2012
發布: 2012年
發布單位: 法國標準化協會
當前最新: NF EN 60749-40:2012

NF EN 60749-40:2012相似標準

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