標準名稱:半導體器件-機械和氣候試驗方法-第37部分:使用加速度計的板級跌落試驗方法
適用范圍:本標準規(guī)定了使用加速度計進行板級跌落試驗的方法,適用于半導體器件的機械和氣候試驗。內容包括試驗設備、試驗組件、試驗板、試驗程序、失效準則和失效分析等。
本標準由國際電工委員會(IEC)制定,旨在為半導體器件的機械和氣候試驗提供統(tǒng)一的測試方法,確保器件在實際應用中的可靠性。通過使用加速度計進行跌落試驗,可以評估半導體器件在受到機械沖擊時的性能和耐久性。
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