JIS H 0603:1978
用光電導(dǎo)衰減法測(cè)定鍺中少數(shù)載流子壽命

Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

JIS H 0603:1978

發(fā)布

1978年

發(fā)布單位

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)

當(dāng)前最新

JIS H 0603:1978

 

 

適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用光電導(dǎo)衰減法測(cè)量鍺單晶中少數(shù)載流子壽命（以下簡稱壽命）的方法，壽命值應(yīng)在5～1000μs范圍內(nèi)。

專題

JIS H 0603:1978相似標(biāo)準(zhǔn)

JIS H 0603:1978 中可能用到的儀器設(shè)備