被代替
該設(shè)備不是完成該試驗(yàn)的必備設(shè)備,但對(duì)于資金充裕、且具有集料研究需求的用戶(hù)來(lái)說(shuō),能夠顯著提高檢測(cè)能力和研究水平。“對(duì)于偏光顯微鏡無(wú)法評(píng)定的巖石,應(yīng)采用其他方法檢驗(yàn)。如對(duì)于堿-硅酸活性巖石,如流紋巖,粉砂巖,石灰?guī)r,角頁(yè)巖,燧石/火石,其細(xì)粒的活性硅是隱晶質(zhì)甚至是無(wú)定形的,采用偏光顯微鏡無(wú)法識(shí)別,可采用X射線衍射儀檢驗(yàn)。”注:下劃線斜體字部分摘自新規(guī)范T0324第4.4條的要求。...
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