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KS C 2607-1980
如何測量半導體的電阻率

TESTING METHODS OF SEMICONDUCTOR


標準號
KS C 2607-1980
發布
1980年
發布單位
韓國科技標準局
替代標準
KS C 2607-1974(2000)
當前最新
KS C 2607-2002
 
 

專題


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