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GB/T 17626.11-2008
電磁兼容.試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù).電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)

Electromagnetic compatibility.Testing and measurement techniques.Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests

GBT17626.11-2008, GB17626.11-2008

2024-06

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
GB/T 17626.11-2008
別名
GBT17626.11-2008, GB17626.11-2008
發(fā)布
2008年
總頁(yè)數(shù)
21頁(yè)
采用標(biāo)準(zhǔn)
IEC 61000-4-11:2004 IDT
發(fā)布單位
國(guó)家質(zhì)檢總局
替代標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17626.11-2023
當(dāng)前最新
GB/T 17626.11-2023
 
 
引用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4365-2003 GB/Z 18509-2001 IEC 61000-2-8:2002
被代替標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17626.11-1999
適用范圍
GB/T 17626的本部分規(guī)定了與低壓供電網(wǎng)連接的電氣和電子設(shè)備對(duì)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)方法和優(yōu)選的試驗(yàn)等級(jí)范圍。 本部分適用于額定輸入電流每相不超過16A連接到5OHz或者6OHz交流網(wǎng)絡(luò)的電氣和電子設(shè)備。 本部分不適用于與400Hz交流網(wǎng)絡(luò)相連接的電氣和電子設(shè)備。這些網(wǎng)絡(luò)的試驗(yàn)將在以后的標(biāo)準(zhǔn)中涉及。 本部分的目的是建立一種評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度的通用準(zhǔn)則。 GB/T17626 的本部分中所規(guī)定的試驗(yàn)方法為評(píng)估設(shè)備或系統(tǒng)對(duì)定義的電磁現(xiàn)象的抗擾度表述了一致的方法。正如GB/Z 18509-2001中所述的，這是IEC有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)所用的EMC基礎(chǔ)出版物。也正如GB/Z 18509-2001聲明的，有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)確定本抗擾度標(biāo)準(zhǔn)是否適用，若適用，則負(fù)責(zé)確定適當(dāng)?shù)脑囼?yàn)等級(jí)和性能判據(jù)。電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)和其分委員會(huì)準(zhǔn)備與有關(guān)專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)合作，評(píng)估用于他們產(chǎn)品的特定抗擾度試驗(yàn)值。

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專題

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GB/T 17626.11-2008 中可能用到的儀器設(shè)備

誰(shuí)引用了GB/T 17626.11-2008 更多引用



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