1 什么是掃描電子顯微鏡(SEM)????Scanning Electron Microscope(SEM)掃描型電子顯微鏡是由真空系統、??? 高壓電源、高靈敏度增幅器獲取樣品表面圖像的科學儀器。2 SEM的工作原理????3 SEM與光學顯微鏡相比,SEM的優點有哪些?????比光學顯微鏡多...
掃描電子顯微鏡和能譜儀、金相顯微鏡、紫外/可見/近紅外光譜儀、X射線三維顯微鏡等分析儀器。可進行各類材料化學成分、表面性質、微區形貌、內部構造進行直觀、精確、快速、無損的分析檢測。廣泛應用于地質、冶金、化工、陶瓷、金屬、復合材料、生物、刑偵、半導體、光學元件、3D打印等領域。主要檢測項目有:(1...
分析測試步驟開機1、?接通循環水(流速1.5-2.0L/min)?2、?打開主電源開關。??3、?在主機上插入鑰匙,旋至start位置。松開后鑰匙自動回到on位置,真空系統開始工作。?4、?等待10秒鐘后,打開計算機運行。?5、?點擊桌面的開始程序。??6、?點擊[JEOL.SEM]及...
導讀顯微分析技術重要的設備包括:光學顯微鏡(OM)、雙束掃描電子顯微鏡(DB-FIB)、掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)。今天的文章將介紹DB-FIB的原理及應用,重點介紹廣電計量DB-FIB的服務能力及DB-FIB應用于半導體分析相關的案例。什么是DB-FIB雙束掃描電子顯微鏡...
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