梅特勒-托利多:用于測定顆粒粒度分布的篩分易巧稱量件上市-- One Click?一鍵稱量篩分分析解決方案?篩分易巧稱量件是可放置在精密天平秤盤上的選配件,用于固定篩堆安全放置在天平正確的位置。??完整的One Click? 一鍵稱量篩分分析解決方案?使用天平觸摸屏上的One Click?快捷鍵即可...
對粒度分析來說,沒有一種測試技術能夠滿足所有材料的應用需求,選擇正確的測試方法是獲得可靠數據的關鍵,因此美國麥克儀器公司提供多種測定顆粒數量以及粒度分布的儀器,對應不同的測試方法,滿足不同的應用。產品特點動態光散射(DLS)和Zeta電位動態光散射(DLS),也稱為光子相關光譜法(PCS),是測量...
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