ASTM E112-12
測定平均粒度的標準試驗方法

Standard Test Methods for Determining Average Grain Size

被代替

標準號

ASTM E112-12

發布

2012年

發布單位

美國材料與試驗協會

替代標準

ASTM E112-13

當前最新

ASTM E112-24

 

 

適用范圍

1.1“比較程序”比較程序不需要計算晶粒、截距或交點，但顧名思義，涉及晶粒結構與晶粒結構的比較。一系列分級圖像，可以是掛圖、透明塑料覆蓋層或目鏡十字線的形式。比較晶粒尺寸評級聲稱晶粒尺寸比實際尺寸稍粗（低 1/2 至 1 G 數），這似乎存在普遍偏差（參見 X1.3.5）。比較圖的重復性和再現性評級一般為±1晶粒尺寸數。
4.1.2“平面測量程序”平面測量方法涉及對已知區域內的顆粒數量進行實際計數。每單位面積的晶粒數 NA 用于確定 ASTM 晶粒尺寸數 G。該方法的精度是計數的晶粒數的函數。通過合理的努力就可以達到 ±0.25 粒度單位的精度。結果沒有偏差，重復性和再現性小于 ±0.5 粒度單位。準確的計數確實需要在計數時對谷物進行標記。
4.1.3“截取程序”截取法是對每單位長度的測試線實際截取的晶粒數或與測試線的晶界相交的數量進行計數，用于計算平均直線截距長度，ℓ。 ℓ用于確定 ASTM 晶粒尺寸數 G。該方法的精度是所計數的截距或交叉點數量的函數。通過合理的努力即可獲得優于 ±0.25 粒度單位的精度。結果不存在偏見；重復性和再現性小于 ±0.5 粒度單位。由于無需標記截距或交點即可進行準確計數，因此對于相同精度水平，截距法比平面法更快。
4.2 對于由等軸晶粒組成的試樣，將試樣與標準圖進行比較的方法是最方便的，并且對于大多數商業目的來說足夠準確。為了更準確地確定平均晶粒尺寸，可以使用截距法或平面法。截距程序對于由細長晶粒組成的結構特別有用。 4.3 如有爭議，在所有情況下，攔截程序均應為裁判程序。

專題

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