本標準規(guī)定了電子背散射衍射分析方法”本標準適用于安裝了電子背散射衍射附件的掃描電鏡和電子探針進行物相識別、晶體取向、顯微織構以及晶界特性等方面的分析。
晶界、亞晶及孿晶性質的分析在得到EBSD整個掃描區(qū)域相鄰兩點之間的取向差信息后,可進行研究的界面有晶界、亞晶、相界、孿晶界、特殊界面(重合位置點陣CSL等)。相鑒定及相比計算就目前來說,相鑒定是指根據(jù)固體的晶體結構來對其物理上的區(qū)別進行分類。EBSD發(fā)展成為進行相鑒定的工具,其應用還不如取向關系測量...
電子衍射與X射線一樣,也遵循布拉格方程,電子束很細,適合作微區(qū)分析,因此,主要用于確定物相以及它們與基體的取向關系以及材料中的結構缺陷等...
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隨著科學技術不斷進步,微束分析技術在材料、生命等領域的應用越來越廣泛。然而,不同實驗機構之間的微束分析結果存在差異,給研究帶來諸多困擾。因此,通過推廣微束分析技術標準化的制定、修訂工作,不僅能提高科學實驗工作效率,還能促進技術發(fā)展和創(chuàng)新。電子顯微鏡作為最具代表性的微束分析儀器之一,可直接觀察納米級...
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