ASTM B487-85(2013)由美國材料與試驗協(xié)會 US-ASTM 發(fā)布于 1985。
ASTM B487-85(2013) 用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層厚度的標準試驗方法的最新版本是哪一版?
最新版本是 ASTM B487-24 。
* 在 ASTM B487-85(2013) 發(fā)布之后有更新,請注意新發(fā)布標準的變化。
1.1 本測試方法涵蓋通過使用光學(xué)顯微鏡對橫截面進行顯微檢查來測量金屬和氧化物涂層的局部厚度。 1.2 在良好條件下,使用光學(xué)顯微鏡時,該方法能夠給出0.8μm的絕對測量精度。這將決定測量薄涂層厚度的方法的適用性。
1.3 本標準并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題(如果有)。本標準的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵嵺`并確定監(jiān)管限制的適用性。 (這尤其適用于表 X2.1 中引用的化學(xué)品。)
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