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GB/T 11297.6-1989
銻化銦單晶位錯蝕坑的腐蝕顯示及測量方法

Standard method for showing and measuring dislocation etch pits in Indium Antimonide single crystal

GBT11297.6-1989, GB11297.6-1989


標準號
GB/T 11297.6-1989
別名
GBT11297.6-1989, GB11297.6-1989
發布
1989年
總頁數
3頁
發布單位
國家質檢總局
當前最新
GB/T 11297.6-1989
 
 
適用范圍
本方法采用硝酸-氫氟酸腐蝕劑腐蝕,適用于銻化銦原始晶片(111)銦面a位錯的顯示和測定。測量面偏離(111)面應不大于3°。

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