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KS D ISO 9220:2009
金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法

Metallic coatings－Measurement of coating thickness－Scanning electron microscope method

被代替

標準號: KS D ISO 9220:2009
發布: 2009年
發布單位: 韓國科技標準局
替代標準: KS D ISO 9220-2009(2017)
當前最新: KS D ISO 9220-2022

被代替標準: KS D ISO 9220:1999

適用范圍: 本標準通過使用掃描電子顯微鏡（SEM）觀察金屬鍍層的橫截面來測量鍍層的局部厚度。

專題

第一臺掃描電子顯微鏡涂層電子顯微鏡電鏡金層厚度掃描電子顯微鏡的測量方法涂層厚度電鏡掃描電子顯微鏡的制片方法貴金屬電子顯微鏡顯微鏡掃描法掃描顯微鏡法掃描電鏡兩種方法掃描電鏡調整方法掃描電鏡一次電子

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KS D ISO 9220:2009 中可能用到的儀器設備

掃描電鏡SEM

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