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OVE EN IEC 60749-37:2020
半導體器件機械和氣候測試方法第37部分：使用加速度計的板級跌落測試方法（IEC 47/2651/CDV）（英文版）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (IEC 47/2651/CDV) (english version)

標準號: OVE EN IEC 60749-37:2020
發(fā)布: 2020年
發(fā)布單位: AT-OVE/ON
當前最新: OVE EN IEC 60749-37:2020

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