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OVE EN IEC 60749-37:2020
半導體器件 機械和氣候測試方法 第37部分:使用加速度計的板級跌落測試方法(IEC 47/2651/CDV)(英文版)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (IEC 47/2651/CDV) (english version)


標準號
OVE EN IEC 60749-37:2020
發(fā)布
2020年
發(fā)布單位
AT-OVE/ON
當前最新
OVE EN IEC 60749-37:2020
 
 

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