暖暖爱视频免费,国产成人涩涩涩视频在线观看,中文在线中文资源,日本亚洲色大成网站WWW久久

<abbr id="yasa0"></abbr>

JIS K 0164:2023
表面化學分析二次離子質譜硅中硼深度分析方法

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Method for depth profiling of boron in silicon

標準號: JIS K 0164:2023
發布: 2023年
發布單位: 日本工業標準調查會
當前最新: JIS K 0164:2023

專題

二次離子譜法質譜中離子強度二次電子質譜法分離度色譜分析質譜分析儀離子二次離子質譜儀測試方法二次質譜分析二次離子深度剖析

JIS K 0164:2023相似標準

GB/T 40109-2021 表面化學分析二次離子質譜硅中硼深度剖析方法 GSO ISO 17560:2013 表面化學分析二次離子質譜測定硅中硼深度數據的方法 ISO 17560:2014 表面化學分析 - 二次離子質譜法 - 硅在硅中深度分析的方法 OS GSO ISO 12406:2013 表面化學分析二次離子質譜法硅中砷的深度分析方法 KS D ISO 17560-2003(2023) 表面化學分析-二次離子質譜分析-硅內硼深度分布測定場法

推薦

標準委發布一批分析檢驗檢測方法標準

-2016表面化學分析X射線光電子能譜確定本底的程序2017-01-01GB/T 32492-2016液化石油氣中二甲醚含量氣相色譜分析法2017-01-01GB/T 32493-2016纖維增強復合材料抗彈性能試驗方法貫穿比吸能法2017-01-01GB/Z 32494-2016表面化學分析俄歇電子能譜化學信息的解析2017-01-01GB/T 32495-2016表面化學分析二次離子質譜硅中砷的深度剖析方法...

555項擬立項國家標準立項在即涉光譜、色譜、質譜檢測

推修鈮鉿合金化學分析方法鉿、鈦、鋯、鎢、鉭等元素的測定電感耦合等離子體原子發射光譜法推制鉭鈮化學分析方法第7部分：鈮中磷量的測定 4-甲基-戊酮-[2]萃取分離磷鉬藍分光光度法和電感耦合等離子體原子發射光譜法推修金鎳鉻鐵硅硼合金化學分析方法第1部分：金量的測定硫酸亞鐵電位滴定法推制金鎳鉻鐵硅硼合金化學分析方法第2部分：鎳量的測定丁二酮肟重量法推制金鎳鉻鐵硅硼合金化學分析方法第3部分：鉻...

一文了解質譜相對強度

　　國際標準分類中，質譜中相對強度涉及到分析化學。　　在中國標準分類中，質譜中相對強度涉及到基礎標準與通用方法、化學。　　日本工業標準調查會，關于質譜中相對強度的標準　　JIS K0153-2015 表面化學分析. 二次離子質譜法....

二次離子質譜技術的分析和應用

　　二次離子質譜是一種具有超高分辨率和靈敏度的固體表面分析技術。它可以分析氫元素到鈾元素在內的所有元素和同位素，還可以得到固體表面官能團和分子結構等信息。SIMS可以分為靜態SIMS（SSIMS）和動態SIMS（DSIMS）兩種類型，通過不同掃描類型，得到二次離子質譜圖、化學成像、動態深度剖析曲線等?！　?..

<ul id="u8eem"></ul>

<tfoot id="u8eem"></tfoot>