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電子顯微鏡的基本

本專題涉及電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)有193條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子顯微鏡的基本涉及到光學(xué)和光學(xué)測量、光學(xué)設(shè)備、焊接、釬焊和低溫焊、分析化學(xué)、空氣質(zhì)量、電子元器件綜合、金屬材料試驗(yàn)、電子顯示器件、煤、長度和角度測量、表面處理和鍍涂、建筑材料、橡膠和塑料用原料、犯罪行為防范、鋼鐵產(chǎn)品、陶瓷、涂料和清漆、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、紙和紙板、半導(dǎo)體分立器件。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，電子顯微鏡的基本涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、光學(xué)儀器綜合、溫度與壓力儀表、化學(xué)試劑綜合、稀有金屬及其合金分析方法、金相檢驗(yàn)方法、公共醫(yī)療設(shè)備、煤炭分析方法、材料防護(hù)、混凝土、集料、灰漿、砂漿、犯罪鑒定技術(shù)、放大鏡與顯微鏡、氣體介質(zhì)與放射性物質(zhì)采樣方法、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、醫(yī)用光學(xué)儀器設(shè)備與內(nèi)窺鏡、炭黑、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、大氣、水、土壤環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)、鋼鐵與鐵合金分析方法、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、光學(xué)計(jì)量、特種陶瓷、造紙綜合、化妝品、紙、環(huán)境衛(wèi)生、衛(wèi)生、安全、勞動(dòng)保護(hù)、油、氣處理設(shè)備。


行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

SE-SIS，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
  • ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法
  • ISO 19214:2017 微束分析. 分析電子顯微術(shù). 采用透射電子顯微鏡術(shù)測定絲狀晶體顯著增長方向的方法
  • ISO 9220:2022 金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法
  • ISO 21466:2019 微束分析.掃描電子顯微鏡.用CD-SEM評定臨界尺寸的方法
  • ISO 29301:2017 微光束分析.分析電子顯微鏡法.具有周期性結(jié)構(gòu)的基準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大的方法
  • ISO 13794:1999 環(huán)境空氣 石棉纖維的測定 間接傳遞電子顯微鏡法
  • ISO 10312:1995 環(huán)境空氣 石棉纖維的測定 直接傳遞電子顯微鏡法
  • ISO 23420:2021 微束分析.分析電子顯微鏡.電子能量損失譜分析用能量分辨率的測定方法
  • ISO 21363:2020 納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測定粒度分布的方案
  • ISO 29301:2010 微光束分析.分析的透射電子顯微鏡法.具有周期性結(jié)構(gòu)的基準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大的方法
  • ISO 13794:2019 環(huán)境空氣 - 石棉纖維的測定 - 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
  • ISO 10312:2019 環(huán)境空氣.石棉纖維的測定.直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
  • ISO/WD TR 23683:2023 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用電掃描探針顯微鏡對半導(dǎo)體器件中載流子濃度進(jìn)行實(shí)驗(yàn)量化的指南
  • ISO 24639:2022 微束分析.分析電子顯微鏡.用電子能量損失光譜法進(jìn)行元素分析的能量標(biāo)度校準(zhǔn)程序
  • ISO 14966:2019 環(huán)境空氣.無機(jī)纖維顆粒數(shù)值濃度的測定.掃描電子顯微鏡法
  • ISO/CD 20263:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 層狀材料橫截面圖像中界面位置的確定方法
  • ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù).用透射電子顯微鏡重建棒支撐納米物體的三維圖像
  • ISO 20263:2017 微束分析 - 分析透射電子顯微鏡 - 分層材料橫截面圖像中界面位置的測定方法
  • ISO 14966:2002 環(huán)境空氣.無機(jī)纖維顆粒的數(shù)值濃度的測定.掃描電子顯微鏡檢查法
  • ISO/FDIS 29301:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
  • ISO 29301:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
  • ISO 14966:2002/cor 1:2007 環(huán)境空氣.無機(jī)纖維顆粒數(shù)值濃度的測定.掃描電子顯微鏡法.技術(shù)勘誤1

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

德國機(jī)械工程師協(xié)會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • DVS 2803-1974 顯微鏡下的電子束焊接（調(diào)查）
  • VDI 3861 Blatt 2-2008 固定源排放廢氣中無機(jī)纖維顆粒的測量掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3492-2004 室內(nèi)空氣測量-環(huán)境空氣測量-無機(jī)纖維顆粒的測量-掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3492-2013 室內(nèi)空氣測量-環(huán)境空氣測量-無機(jī)纖維顆粒的測量-掃描電子顯微鏡法

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
  • JIS K 3850-1:2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
  • JIS M 8816:1992 固體礦物燃料.煤的基本微觀結(jié)構(gòu)和反射系數(shù)的顯微鏡測量法
  • JIS K 3850-3:2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第3部分:間接傳遞透射電子顯微鏡法
  • JIS K 3850-2:2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第2部分:直接傳遞透射電子顯微鏡法
  • JIS R 1633:1998 掃描電子顯微鏡觀察用精細(xì)陶瓷和陶瓷粉末的樣品制備方法

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式
  • BS ISO 21466:2019 微束分析 掃描電子顯微鏡 CDSEM評估關(guān)鍵尺寸的方法
  • BS ISO 16700:2016 微束分析 掃描電子顯微鏡 校準(zhǔn)圖像放大率的指南
  • BS EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
  • BS ISO 23420:2021 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測定方法
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466 微束分析 掃描電子顯微鏡 CD-SEM 評估關(guān)鍵尺寸的方法
  • BS ISO 13794:1999 環(huán)境空氣.石棉纖維的測定.間接傳遞電子顯微鏡法
  • BS ISO 24639:2022 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)程序
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測定方法
  • 15/30292710 DC BS ISO 19214 透射電子顯微鏡測定線狀晶體生長方向的指南
  • BS ISO 13794:2019 周圍空氣 石棉纖維的測定 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
  • BS ISO 10312:2019 周圍空氣 石棉纖維的測定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)程序
  • BS IEC 62977-2-1:2021 電子顯示器 光學(xué)特性的測量 基本測量
  • PD ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像
  • BS ISO 14966:2019 周圍空氣 無機(jī)纖維顆粒數(shù)值濃度的測定 掃描電子顯微鏡法
  • BS ISO 20263:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 層狀材料橫截面圖像中界面位置的確定方法
  • BS ISO 14966:2002 環(huán)境空氣.無機(jī)纖維顆粒的數(shù)值濃度的測定.掃描電子顯微鏡檢查法
  • BS PD ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 利用透射電子顯微鏡重建桿支撐納米物體的三維圖像
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966 環(huán)境空氣 無機(jī)纖維顆粒數(shù)值濃度的測定 掃描電子顯微鏡法
  • BS ISO 29301:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 利用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
  • BS ISO 29301:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 利用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于電子探針顯微鏡或電子探針微量分析儀(EPMA)的能量色散 X 射線光譜儀的規(guī)格和檢查的選定儀器性能參數(shù)
  • BS EN ISO 17751-2:2023 紡織品 羊絨、羊毛等特種動(dòng)物纖維及其混紡品的定量分析掃描電子顯微鏡法
  • BS ISO 29301:2010 微光束分析.分析透射電子顯微鏡法.利用具有周期性結(jié)構(gòu)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行標(biāo)定圖像放大的方法

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/Z 21738-2008 一維納米材料的基本結(jié)構(gòu).高分辨透射電子顯微鏡檢測方法
  • GB/T 19267.6-2003 刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分;掃描電子顯微鏡法
  • GB/T 28044-2011 納米材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測方法通則
  • GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線 能譜定量分析通則
  • GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
  • GB/T 19267.6-2008 刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分:掃描電子顯微鏡/X射線能譜法
  • GB/T 17507-2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件
  • GB/T 28873-2012 納米顆粒生物形貌效應(yīng)的環(huán)境掃描電子顯微鏡檢測方法通則
  • GB/Z 26083-2010 八辛氧基酞菁銅分子在石墨表面吸附結(jié)構(gòu)的測試方法（掃描隧道顯微鏡）
  • GB/T 2679.11-2008 紙和紙板 無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析.電子顯微鏡/X射線能譜法
  • GB/T 2679.11-1993 紙和紙板中無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析 電子顯微鏡/X射線能譜法

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E766-98(2003) 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
  • ASTM E766-98 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
  • ASTM E2090-00 利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2090-12 利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)方法
  • ASTM E766-98(2008)e1 掃描電子顯微鏡的放大系數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)校正規(guī)范
  • ASTM E3143-18a 脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E3143-18 脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E3143-18b 脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM C1723-16(2022) 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM C1723-10 用掃描電子顯微鏡檢驗(yàn)硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM C1723-16 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D3849-13 用電子顯微鏡對碳黑形態(tài)特性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D3849-14 用電子顯微鏡對碳黑形態(tài)特性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E766-14(2019) 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D3849-95a(2000) 用電子顯微鏡測定炭黑形態(tài)特征的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D3849-07 用電子顯微鏡測定炭黑形態(tài)特征的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D3849-22 用電子顯微鏡測定炭黑形態(tài)特征的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E3143-18b(2023) 進(jìn)行脂質(zhì)體冷凍透射電子顯微鏡檢查的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E766-14e1 用于校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D3849-02 炭黑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法.用電子顯微鏡分析炭黑的形態(tài)特征
  • ASTM D3849-04 炭黑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法.用電子顯微鏡分析炭黑的形態(tài)特征
  • ASTM D3849-14a 炭黑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法. 使用電子顯微鏡測定炭黑的形態(tài)特征
  • ASTM B748-90(1997) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的方法
  • ASTM B748-90(2006) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的方法
  • ASTM D7201-06(2020) 通過相位對比顯微鏡（帶有透射電子顯微鏡選項(xiàng)）在工作場所取樣和計(jì)數(shù)機(jī)載纖維（包括石棉纖維）的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E2142-08(2015) 用掃描電子顯微鏡評定和分類鋼中夾雜物的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2142-08 用掃描電子顯微鏡分級和分類鐵中內(nèi)含物的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2142-08(2023) 用掃描電子顯微鏡評定和分類鋼中夾雜物的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D7201-06(2011) 用相襯顯微鏡(也可選擇透射電子顯微鏡)在工作場所采樣,并計(jì)算空氣纖維(包括石棉纖維)含量的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM B748-90(2010) 掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2142-01 利用掃描電子顯微鏡測定鋼中雜質(zhì)的額定值和分級的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2809-13 在法醫(yī)油漆檢查中使用掃描電子顯微鏡/X射線光譜法的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM B748-90(2021) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測量金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1588-95(2001) 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-08 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-10 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-95 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM B748-90(2016) 通過用掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的試驗(yàn)方法
  • ASTM B748-90(2001) 通過掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM D5756-02 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉質(zhì)量濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5756-95 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉質(zhì)量濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM F1372-93(1999) 用于氣體分布系統(tǒng)部件的金屬表面條件掃描電子顯微鏡（SEM）的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM F1372-93(2020) 用于氣體分布系統(tǒng)部件的金屬表面條件掃描電子顯微鏡（SEM）的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM D5755-95 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉結(jié)構(gòu)值濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5755-02 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉結(jié)構(gòu)值濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5756-02(2008) 用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉塊表面負(fù)荷作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5755-03 用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5755-09 用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D5755-09(2014)e1 用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1588-20 通過掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行槍支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM D6056-96(2011) 工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度透射電子顯微鏡測定的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM F1372-93(2012) 氣體分配系統(tǒng)組件用金屬表面狀態(tài)的掃描式電子顯微鏡 (SEM) 分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM F1372-93(2005) 氣體分配系統(tǒng)組件用金屬表面狀態(tài)的掃描式電子顯微鏡(SEM)分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

美國電子電路和電子互連行業(yè)協(xié)會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS CECC 13:1985(1999) 電子元件質(zhì)量評估協(xié)調(diào)制度：基本規(guī)范：半導(dǎo)體芯片的掃描電子顯微鏡檢查

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 35098-2018 微束分析 透射電子顯微術(shù) 植物病毒形態(tài)學(xué)的透射電子顯微鏡鑒定方法

國際電工委員會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • IEC PAS 62191:2000 非氣密封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡
  • ISO TS 22292:2021 納米技術(shù)——使用透射電子顯微鏡對棒支撐的納米物體進(jìn)行3D圖像重建

KR-KS，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • KS D 2716-2023 納米顆粒直徑的測量-透射電子顯微鏡
  • KS D ISO 15632-2023 微束分析.與掃描電子顯微鏡（SEM）或電子探針微量分析儀（EPMA）一起使用的能量色散X射線光譜儀（EDS）的規(guī)范和檢查所選儀器性能參數(shù)

工業(yè)和信息化部，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術(shù) 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進(jìn)行粒子測量的準(zhǔn)備和評估方法
  • DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法
  • DIN EN ISO 9220:2021 金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）
  • DIN EN ISO 9220:1995 金屬鍍層.鍍層厚度測量.電子掃描顯微鏡法 (ISO 9220:1988); 德文版本 EN ISO 9220:1994
  • DIN EN 60749-35:2007-03 半導(dǎo)體器件-機(jī)械和氣候測試方法-第35部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

VDI - Verein Deutscher Ingenieure，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • VDI 3866 Blatt 5-2003 工業(yè)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3866 BLATT 5-2015 技術(shù)產(chǎn)品中石棉的測定掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3861 Blatt 2-1994 流動(dòng)潔凈廢氣中無機(jī)纖維顆粒的測量掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3861 Blatt 2-1996 流動(dòng)潔凈廢氣中無機(jī)纖維顆粒的測量掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3877 Blatt 1-2009 測量室內(nèi)污染 測量表面沉積的纖維灰塵 掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3861 Blatt 2-2006 固定源排放廢氣中無機(jī)纖維顆粒的測量掃描電子顯微鏡法
  • VDI 3492-2011 室內(nèi)空氣測量 環(huán)境空氣測量 無機(jī)纖維顆粒的測量 掃描電子顯微鏡法

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 33839-2017 基于生物效應(yīng)含碳基納米材料生物樣品的透射電子顯微鏡檢測方法
  • GB/T 34168-2017 金、銀納米顆粒材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測方法

RU-GOST R，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • GOST R 8.594-2009 確保測量一致性的國家體系.掃描電子顯微鏡
  • GOST R 8.697-2010 確保測量一致性的國家體系.晶體中的平面間距.利用透射電子顯微鏡的測量方法

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • DS/EN ISO 9220:1995 金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法
  • DS/ISO/TS 22292:2021 納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡對桿狀支撐的納米物體進(jìn)行 3D 圖像重建
  • DS/EN 60749-35:2007 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第35部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

IT-UNI，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNI 7604-1976 用復(fù)制品進(jìn)行的金屬材料電子顯微鏡檢測．顯微照相檢測用復(fù)制品的準(zhǔn)備
  • UNI 7329-1974 使用復(fù)制品進(jìn)行金屬材料的電子顯微鏡檢測．顯微結(jié)構(gòu)檢測用復(fù)制品的準(zhǔn)備

ES-UNE，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNE-EN ISO 9220:2022 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡方法
  • UNE-EN 60749-35:2006 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候測試方法 第35部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • EN ISO 21363:2022 納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測定粒度分布的方案
  • prEN ISO 9220:2021 金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）

AENOR，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • UNE-EN ISO 9220:1996 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法 （ISO 9220:1988）
  • UNE 77236:1999 環(huán)境空氣 石棉纖維的測定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

AT-ON，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • GA/T 909-2010 微量物證的提取、包裝方法 掃描電子顯微鏡/能譜法檢驗(yàn)射擊殘留物
  • GA/T 823.3-2018 法庭科學(xué)油漆物證的檢驗(yàn)方法 第3部分：掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

BE-NBN，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • NBN EN ISO 9220:1995 金屬保護(hù)層．保護(hù)層厚度的測定：使用電子掃描顯微鏡（ISO 9220-1988）

IPC - Association Connecting Electronics Industries，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • ANSI/ASTM D6059:2001 用掃描電子顯微鏡測定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法
  • ANSI/ASTM D6056:2001 用傳輸電子顯微鏡測定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法

BELST，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • STB 2210-2011 納米級碳和非碳材料以及基于它們的復(fù)合材料 使用掃描電子顯微鏡測量確定參數(shù)的方法
  • STB 2209-2011 納米級碳和非碳材料以及基于它們的復(fù)合材料 使用掃描電子顯微鏡測量確定元素組成的技術(shù)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • SN/T 2649.1-2010 進(jìn)出口化妝品中石棉的測定 第1部分：X射線衍射-掃描電子顯微鏡法

IX-IX-IEC，關(guān)于電子顯微鏡的基本的標(biāo)準(zhǔn)

  • IEC TS 62607-6-17:2023 納米制造 關(guān)鍵控制特性 第 6-17 部分：石墨烯基材料 階參數(shù)：X 射線衍射和透射電子顯微鏡


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