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電子顕微鏡の基礎

電子顕微鏡の基礎は全部で 184 項標準に関連している。

電子顕微鏡の基礎 國際標準分類において、これらの分類：光學および光學測定、 光學機器、 溶接、ロウ付け、低溫溶接、 分析化學、 空気の質、 総合電子部品、 金屬材料試験、 電子表示裝置、 石炭、 長さと角度の測定、 表面処理?メッキ、 建材、 ゴムやプラスチックの原料、 犯罪予防、 鉄鋼製品、 セラミックス、 塗料とワニス、 醫(yī)療科學とヘルスケア機器の統(tǒng)合、 紙とボール紙、 半導體ディスクリートデバイス。

Professional Standard - Machinery, 電子顕微鏡の基礎

• JB/T 5586-1991 透過型電子顕微鏡の分類と基本パラメータ

SE-SIS, 電子顕微鏡の基礎

• SIS SS CECC 00013-1985 基本仕様。 半導體チップの走査型電子顕微鏡観察

International Organization for Standardization (ISO), 電子顕微鏡の基礎

• ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
• ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
• ISO 19214:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡による糸狀結晶の顕著な成長方向の決定方法
• ISO 9220:2022 金屬皮膜 皮膜厚さの測定 走査型電子顕微鏡法
• ISO 21466:2019 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、CD-SEM による臨界サイズの評価方法。
• ISO 29301:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡法、周期構造を持つ標準物質の畫像倍率を校正する方法。
• ISO 13794:1999 間接転寫電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
• ISO 10312:1995 直接転寫電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
• ISO 23420:2021 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、電子エネルギー損失分光分析のエネルギー分解能の決定方法
• ISO 21363:2020 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡による粒度分布測定のプロトコル
• ISO 29301:2010 マイクロビーム分析 分析透過型電子顕微鏡法 周期構造を持つ標準物質の畫像倍率を校正する方法
• ISO 13794:2019 周囲空気 - アスベスト繊維の測定 - 間接転寫透過型電子顕微鏡
• ISO 10312:2019 周囲空気 アスベスト繊維の測定 直接転寫透過電子顕微鏡法
• ISO/WD TR 23683:2023 表面化學分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導體デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
• ISO 24639:2022 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、電子エネルギー損失分光法による元素分析のためのエネルギースケーリング手順。
• ISO 14966:2019 周囲空気 無機繊維粒子の濃度數値測定 走査型電子顕微鏡法
• ISO/CD 20263:2023 マイクロビーム解析と電子顕微鏡を用いた層狀材料の斷面畫像における界面位置の決定方法
• ISO/TS 22292:2021 ナノテクノロジー: 透過型電子顕微鏡を使用したロッド支持ナノオブジェクトの 3 次元畫像の再構成
• ISO 20263:2017 マイクロビーム解析 - 分析透過型電子顕微鏡 - 層狀材料の斷面畫像における界面位置の決定方法
• ISO 14966:2002 周囲空気 無機繊維粒子の濃度數値測定 走査型電子顕微鏡法
• ISO/FDIS 29301:2023 マイクロビーム解析 周期構造を有する標準物質を使用した畫像倍率の校正のための分析電子顕微鏡法
• ISO 29301:2023 マイクロビーム解析 周期構造を有する標準物質を使用した畫像倍率の校正のための分析電子顕微鏡法
• ISO 14966:2002/cor 1:2007 周囲空気 無機繊維粒子の數値濃度の測定 走査型電子顕微鏡法 技術訂正事項 1

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子顕微鏡の基礎

• KS I 0051-1999(2019) 走査型電子顕微鏡の一般規(guī)則
• KS M 0044-1999 走査型電子顕微鏡の一般規(guī)則
• KS D 2716-2008 ナノ粒子徑測定技術 透過型電子顕微鏡
• KS D 2716-2008(2018) ナノ粒子徑の測定 - 透過型電子顕微鏡
• KS D ISO 9220-2009(2022) 走査型電子顕微鏡による金屬皮膜の膜厚測定
• KS D ISO 9220-2009(2017) 走査型電子顕微鏡による金屬皮膜の膜厚測定
• KS I ISO 10312:2008 周囲空気 アスベスト繊維の測定 直接透過型電子顕微鏡法
• KS I ISO 13794:2008 周囲空気 アスベスト繊維の測定 間接転寫電子顕微鏡法
• KS I ISO 10312-2008(2018) 直接透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
• KS I ISO 13794-2008(2018) 間接透過型電子顕微鏡による周囲空気中のアスベスト繊維含有量の測定

Association of German Mechanical Engineers, 電子顕微鏡の基礎

• DVS 2803-1974 顕微鏡下での電子ビーム溶接（調査）
• VDI 3861 Blatt 2-2008 走査型電子顕微鏡による固定発生源から排出される排ガス中の無機繊維粒子の測定
• VDI 3492-2004 室內空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡
• VDI 3492-2013 室內空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電子顕微鏡の基礎

• JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定 パート 1: 光學顕微鏡と走査型電子顕微鏡
• JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維狀粒子の測定方法 その 1: 光學顕微鏡と走査型電子顕微鏡
• JIS M 8816:1992 固體鉱物燃料 石炭の基本微細構造と反射係數の顕微鏡測定
• JIS K 3850-3:2000 空気中の繊維狀粒子の測定方法 その 3: 間接転寫透過型電子顕微鏡
• JIS K 3850-2:2000 空気中の繊維狀粒子の測定方法 その 2: 直接転寫透過型電子顕微鏡
• JIS R 1633:1998 走査型電子顕微鏡観察用ファインセラミックスおよびセラミックス粉末の試料作製方法

British Standards Institution (BSI), 電子顕微鏡の基礎

• 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き畫像ファイル形式
• BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析 走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評価する方法
• BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の畫像倍率を校正するためのガイド
• BS EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金屬皮膜の皮膜厚さの測定
• BS ISO 23420:2021 マイクロビーム分析、電子顕微鏡分析、電子エネルギー損失分光分析のエネルギー分解能の決定方法
• 18/30344520 DC BS ISO 21466 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 CD-SEM 限界寸法の評価方法
• BS ISO 13794:1999 周囲空気 アスベスト繊維の測定 間接転寫電子顕微鏡法
• BS ISO 24639:2022 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 電子エネルギー損失分光法 元素分析用のエネルギースケールの校正手順
• 21/30394409 DC BS ENISO 9220 金屬コーティングのコーティング厚さの測定 走査型電子顕微鏡
• 20/30380369 DC BS ISO 23420 マイクロビーム分析 電子顕微鏡法 電子エネルギー損失分光法 エネルギー分解能の測定
• 15/30292710 DC BS ISO 19214 透過型電子顕微鏡による線形結晶成長方向の決定に関するガイド
• BS ISO 13794:2019 間接転寫透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
• BS ISO 10312:2019 直接転寫透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
• 21/30404763 DC BS ISO 24639 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡 電子エネルギー損失分光法 元素分析用のエネルギースケールの校正手順
• BS IEC 62977-2-1:2021 電子ディスプレイの光學特性の測定 基本的な測定
• PD ISO/TS 22292:2021 ナノテクノロジーでは、透過型電子顕微鏡を使用して棒狀のナノオブジェクトの 3D 畫像を再構成します。
• BS ISO 14966:2019 走査型電子顕微鏡による大気中の無機繊維粒子の濃度數値測定
• BS ISO 20263:2017 マイクロビーム解析と電子顕微鏡を用いた層狀材料の斷面畫像における界面位置の決定方法
• BS ISO 14966:2002 周囲空気 無機繊維粒子の濃度數値測定 走査型電子顕微鏡法
• BS PD ISO/TS 22292:2021 ナノテクノロジーでは、透過型電子顕微鏡を使用してロッドで支持されたナノオブジェクトの 3D 畫像を再構成します。
• 18/30375050 DC BS ISO 14966 周囲空気中の無機繊維粒子の數値濃度の測定 走査型電子顕微鏡
• BS ISO 29301:2017 分析電子顕微鏡用の周期構造を有する標準物質を使用して畫像倍率を校正するためのマイクロビーム解析法
• BS ISO 29301:2023 分析電子顕微鏡用の周期構造を有する標準物質を使用して畫像倍率を校正するためのマイクロビーム解析法
• 19/30394914 DC BS ISO 15632 マイクロビーム分析 電子プローブ顕微鏡または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) 用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用の仕様および選択された機器性能パラメータ
• BS EN ISO 17751-2:2023 走査型電子顕微鏡を使用したカシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびその混紡繊維の定量分析
• BS ISO 29301:2010 マイクロビーム分析、分析透過型電子顕微鏡、周期構造を持つ標準物質を使用して畫像倍率を校正する方法。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子顕微鏡の基礎

• GB/Z 21738-2008 一次元ナノ材料の基本構造 高分解能透過型電子顕微鏡検出法
• GB/T 19267.6-2003 犯罪手法における微量証拠の物理的および化學的検査 パート 6; 走査電子顕微鏡法
• GB/T 28044-2011 ナノマテリアルの生物學的影響の透過型電子顕微鏡検出法の一般規(guī)則
• GB/T 18873-2002 生物學的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
• GB/T 18873-2008 生物學的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
• GB/T 19267.6-2008 犯罪技術的痕跡証拠の物理的および化學的検査 第 6 部: 走査型電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光法
• GB/T 17507-2008 生物學的薄膜標準の透過型電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術條件
• GB/T 28873-2012 ナノ粒子の生體形態(tài)効果に対する環(huán)境走査型電子顕微鏡検出法の一般原理
• GB/Z 26083-2010 オクチルオキシ銅フタロシアニン分子の黒鉛表面への吸著構造の実験方法（走査型トンネル顕微鏡）
• GB/T 2679.11-2008 紙および板紙の無機フィラーおよび無機コーティングの定性分析電子顕微鏡 / X 線分光分析
• GB/T 2679.11-1993 紙および板紙の無機フィラーおよび無機コーティングの定性分析電子顕微鏡 / X 線エネルギー分光分析

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子顕微鏡の基礎

• ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
• ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
• ASTM E2090-00 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計數するための標準的な試験方法
• ASTM E2090-12 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計數するための標準的な試験方法
• ASTM E986-97 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
• ASTM E986-04(2017) 走査型電子顕微鏡におけるビームサイズ特性評価の標準的な手法
• ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法
• ASTM E766-98(2008)e1 走査型電子顕微鏡の倍率の標準校正仕様
• ASTM E3143-18a リポソームの低溫透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
• ASTM E3143-18 リポソームの低溫透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
• ASTM E3143-18b リポソームの低溫透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
• ASTM C1723-16(2022) 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
• ASTM C1723-10 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
• ASTM C1723-16 走査型電子顕微鏡による硬化コンクリート検査の標準ガイド
• ASTM D3849-13 電子顕微鏡を使用したカーボンブラックの形態(tài)學的特性の標準試験方法
• ASTM D3849-14 電子顕微鏡を使用したカーボンブラックの形態(tài)學的特性の標準試験方法
• ASTM E766-14(2019) 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
• ASTM D3849-95a(2000) 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態(tài)學的特性を測定するための標準試験方法
• ASTM D3849-07 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態(tài)學的特性を測定するための標準試験方法
• ASTM D3849-22 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態(tài)學的特性を測定するための標準試験方法
• ASTM E3143-18b(2023) リポソームの低溫透過電子顕微鏡検査を実行するための標準的な手法
• ASTM E766-14e1 走査型電子顕微鏡の倍率を校正するための標準的な方法
• ASTM D3849-02 カーボンブラックの標準試験法 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態(tài)特性の解析
• ASTM D3849-04 カーボンブラックの標準試験法 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態(tài)特性の解析
• ASTM D3849-14a カーボンブラックの標準試験法 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態(tài)的特性の測定
• ASTM B748-90(1997) 走査型電子顕微鏡による斷面測定により金屬皮膜の厚さを求める方法
• ASTM B748-90(2006) 走査型電子顕微鏡による斷面測定により金屬皮膜の厚さを求める方法
• ASTM D7201-06(2020) 位相差顕微鏡（透過型電子顕微鏡オプションあり）による職場內のアスベスト繊維を含む浮遊繊維のサンプリングと計數の標準的な実施方法
• ASTM E2142-08(2015) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
• ASTM E2142-08 走査型電子顕微鏡を使用した鉄中の介在物を等級分けおよび分類するための標準的な試験方法
• ASTM E2142-08(2023) 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の介在物の評価と分類のための標準的な試験方法
• ASTM D7201-06(2011) 位相差顕微鏡 (オプションで透過型電子顕微鏡) を使用して職場をサンプリングし、空気繊維 (アスベスト繊維を含む) 含有量を計算するための標準操作手順
• ASTM B748-90(2010) 走査型電子顕微鏡による斷面の測定による金屬コーティングの厚さを測定するための標準試験方法
• ASTM E2142-01 走査型電子顕微鏡を使用した鋼中の不純物の評価と分類のための標準試験方法
• ASTM E2809-13 法醫(yī)學塗料検査における走査型電子顕微鏡/X 線分光法の使用に関する標準ガイド
• ASTM B748-90(2021) 走査型電子顕微鏡を使用して斷面を測定することにより、金屬コーティングの厚さを測定する標準的な試験方法
• ASTM E1588-95(2001) 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃殘渣分析の標準ガイド
• ASTM E1588-08 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃殘渣分析の標準ガイド
• ASTM E1588-10 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃殘渣分析の標準ガイド
• ASTM E1588-95 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃殘渣分析の標準ガイド
• ASTM B748-90(2016) 走査型電子顕微鏡による斷面測定により金屬皮膜の厚さを測定する試験方法
• ASTM B748-90(2001) 走査型電子顕微鏡で斷面を測定することで金屬皮膜の厚さを測定する標準的な試験方法
• ASTM D5756-02 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト質量濃度の間接分析のための標準試験方法
• ASTM D5756-95 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト質量濃度の間接分析のための標準試験方法
• ASTM F1372-93(1999) ガス分配システムコンポーネントの金屬表面狀態(tài)の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
• ASTM F1372-93(2020) ガス分配システムコンポーネントの金屬表面狀態(tài)の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
• ASTM D5755-95 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト構造値濃度の間接分析のための標準的な試験方法
• ASTM D5755-02 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト構造値濃度の間接分析のための標準的な試験方法
• ASTM D5756-02(2008) 微小真空サンプリングの標準試験方法と透過型電子顕微鏡による粉塵中のアスベストブロックの表面負荷の間接分析
• ASTM D5755-03 表面荷重のアスベスト構造値を使用した、微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡による粉塵の間接分析の標準試験方法
• ASTM D5755-09 表面荷重のアスベスト構造値を使用した、微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡による粉塵の間接分析の標準試験方法
• ASTM D5755-09(2014)e1 表面荷重のアスベスト構造値を使用した、微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡による粉塵の間接分析の標準試験方法
• ASTM E1588-20 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析による銃器殘留物分析の標準手法
• ASTM D6056-96(2011) 作業(yè)條件下の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を透過型電子顕微鏡で測定するための標準試験方法

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 電子顕微鏡の基礎

• IPC TM-650 2.6.22-1995 プラスチック封止電子部品用の音響顕微鏡

未注明發(fā)布機構, 電子顕微鏡の基礎

• BS CECC 13:1985(1999) 電子部品の品質評価連攜體制：基本仕様：半導體チップの走査型電子顕微鏡検査

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會, 電子顕微鏡の基礎

• GB/T 35098-2018 マイクロビーム解析 透過電子顕微鏡法 透過電子顕微鏡法 植物ウイルスの形態(tài)の同定

International Electrotechnical Commission (IEC), 電子顕微鏡の基礎

• IEC PAS 62191:2000 非気密封止された電子部品の音響顕微鏡検査
• ISO TS 22292:2021 ナノテクノロジー – 透過型電子顕微鏡を使用したロッド支持ナノオブジェクトの 3D 畫像再構成

KR-KS, 電子顕微鏡の基礎

• KS D 2716-2023 ナノ粒子徑の測定 - 透過型電子顕微鏡
• KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機器性能パラメーターの仕様と検査

工業(yè)和信息化部, 電子顕微鏡の基礎

• YB/T 4676-2018 透過型電子顕微鏡による鋼中の析出相の分析

German Institute for Standardization, 電子顕微鏡の基礎

• DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法
• DIN EN ISO 9220:2022-05 金屬皮膜 - 皮膜厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡
• DIN EN ISO 9220:2021 金屬コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)
• DIN EN ISO 9220:1995 金屬コーティング、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)、ドイツ語版 EN ISO 9220:1994
• DIN EN 60749-35:2007-03 半導體デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 35: プラスチック封止された電子部品の音響顕微鏡検査

Association Francaise de Normalisation, 電子顕微鏡の基礎

• XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した畫像の鮮明さを評価する方法
• XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 畫像の鮮明さを評価する方法
• NF A91-108:1995 金屬皮膜 皮膜厚さの測定 走査型電子顕微鏡法
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金屬皮膜の膜厚測定
• NF EN ISO 9220:2022 金屬皮膜 皮膜厚さの測定 走査型電子顕微鏡法
• NF ISO 10312:2020 直接転寫透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定
• NF X43-050:1996 大気の質 電子顕微鏡透過法によるアスベスト繊維密度の測定 間接法
• NF EN 60749-35:2006 半導體デバイス - 気候および機械的試験方法 - パート 35: プラスチックでパッケージ化された電子部品の音響顕微鏡検査

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, 電子顕微鏡の基礎

• GB/T 33839-2017 炭素系ナノ材料の生物學的効果に基づく生體試料の透過型電子顕微鏡検出法
• GB/T 34168-2017 金および銀ナノ粒子材料の生物學的影響の透過型電子顕微鏡検出法

RU-GOST R, 電子顕微鏡の基礎

• GOST R 8.594-2009 測定の一貫性を確保するための國家システム 走査型電子顕微鏡
• GOST R 8.697-2010 測定の一貫性を確保するための國家制度 結晶の面間隔 透過型電子顕微鏡による測定方法

Danish Standards Foundation, 電子顕微鏡の基礎

• DS/EN ISO 9220:1995 走査型電子顕微鏡による金屬皮膜の膜厚測定
• DS/ISO/TS 22292:2021 ナノテクノロジー透過型電子顕微鏡を使用したロッド支持ナノオブジェクトの 3D 畫像再構成
• DS/EN 60749-35:2007 半導體デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 35: プラスチック封止された電子部品の音響顕微鏡検査

IT-UNI, 電子顕微鏡の基礎

• UNI 7604-1976 レプリカを使用した金屬材料の電子顕微鏡検査。 顕微鏡寫真検査用のレプリカの作成
• UNI 7329-1974 レプリカを使用した金屬材料の電子顕微鏡検査。 微細構造検査用レプリカの作成

ES-UNE, 電子顕微鏡の基礎

• UNE-EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金屬皮膜の皮膜厚さの測定方法
• UNE-EN 60749-35:2006 半導體デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 35: プラスチックパッケージ電子部品の音響顕微鏡検査

European Committee for Standardization (CEN), 電子顕微鏡の基礎

• EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡による粒度分布測定のプロトコル
• prEN ISO 9220:2021 金屬コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

AENOR, 電子顕微鏡の基礎

• UNE-EN ISO 9220:1996 走査型電子顕微鏡による金屬コーティングのコーティング厚さの測定 (ISO 9220:1988)
• UNE 77236:1999 直接転寫透過型電子顕微鏡による大気中のアスベスト繊維の測定

Lithuanian Standards Office , 電子顕微鏡の基礎

• LST EN ISO 9220:2001 金屬コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)

AT-ON, 電子顕微鏡の基礎

• OENORM EN ISO 9220:2021 金屬コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

Professional Standard - Public Safety Standards, 電子顕微鏡の基礎

• GA/T 909-2010 痕跡証拠の抽出およびパッケージング方法 射撃殘渣を検出するための走査型電子顕微鏡/エネルギー分光法
• GA/T 823.3-2018 物理的塗料証拠の法醫(yī)學科學的検査方法パート 3: 走査型電子顕微鏡/X 線分光法

BE-NBN, 電子顕微鏡の基礎

• NBN EN ISO 9220:1995 金屬保護層。 保護層の厚さの測定: 走査型電子顕微鏡 (ISO 9220-1988) を使用

IPC - Association Connecting Electronics Industries, 電子顕微鏡の基礎

• IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999 非ハーメチックシールされた電子部品の音響顕微鏡検査 (修正 1 を含む: 2007 年 1 月)

American National Standards Institute （ANSI), 電子顕微鏡の基礎

• ANSI/ASTM D6059:2001 走査型電子顕微鏡を使用して作業(yè)環(huán)境の空気中の単結晶セラミックウィスカーの濃度を測定する方法
• ANSI/ASTM D6056:2001 透過型電子顕微鏡を使用した作業(yè)環(huán)境の空気中の単結晶セラミックウィスカーの濃度を測定する方法

BELST, 電子顕微鏡の基礎

• STB 2210-2011 走査型電子顕微鏡測定を使用して、ナノスケールの炭素材料および非炭素材料およびそれらに基づく複合材料のパラメータを決定する方法
• STB 2209-2011 走査型電子顕微鏡測定を使用して、ナノスケールの炭素材料および非炭素材料およびそれらに基づく複合材料の元素組成を決定する技術

Professional Standard - Commodity Inspection, 電子顕微鏡の基礎

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