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Balanza electrónica semimicro

Balanza electrónica semimicro, Total: 132 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Balanza electrónica semimicro son: Química analítica, Medición de volumen, masa, densidad, viscosidad., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Dispositivos semiconductores, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Circuitos integrados. Microelectrónica, Organización y gestión de la empresa., Sistemas de telecomunicaciones, Aplicaciones de la tecnología de la información., Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Vocabularios, Componentes electrónicos en general., PRUEBAS, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Aplicaciones de imágenes de documentos, Aeronaves y vehículos espaciales en general., Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Geología. Meteorología. Hidrología, Materiales para la construcción aeroespacial., Turbinas de gas y vapor. Máquinas de vapor, Combustibles, Corrosión de metales, Pruebas eléctricas y electrónicas., Equipos y sistemas eléctricos aeroespaciales., Radiocomunicaciones, carbones.

Professional Standard - Machinery, Balanza electrónica semimicro

• JB/T 5374-1991 Balance electrónico
• JB/T 7443-1994 Método de designación de productos de balanza electrónica.
• JB/T 9482-2011 Borde de cuchillo y soporte de borde para equilibrio.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Balanza electrónica semimicro

• JJG 1036-2022 Balance electrónico
• JJG 1036-2008/838 Reglamento de Verificación de Balanza Electrónica
• JJG 1036-2008 Reglamento de Verificación de Balanza Electrónica

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Balanza electrónica semimicro

• GB/T 26497-2022 balanzas electrónicas
• GB/T 26497-2011 Balance electrónico
• GB/T 42709.19-2023 Dispositivos semiconductores Dispositivos microelectromecánicos Parte 19: Brújula electrónica

GSO, Balanza electrónica semimicro

• OS GSO 269:1994 BALANZAS COMERCIALES ELECTRóNICAS
• GSO IEC/TS 62564-1:2013 Gestión de procesos para aviónica - Componentes electrónicos calificados aeroespaciales (AQEC) - Parte 1: Circuitos integrados y semiconductores discretos
• GSO ISO 13067:2015 Análisis de microhaces - Difracción por retrodispersión de electrones - Medición del tama?o medio de grano
• OS GSO ISO 13067:2015 Análisis de microhaces - Difracción por retrodispersión de electrones - Medición del tama?o medio de grano
• BH GSO IEC 62047-19:2022 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: Brújulas electrónicas.
• GSO IEC 62047-19:2021 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: Brújulas electrónicas.
• GSO ISO 15932:2015 Análisis de microhaces -- Microscopía electrónica analítica -- Vocabulario
• BH GSO ISO 23833:2017 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario
• GSO ISO 23833:2015 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario
• OS GSO ISO 23833:2015 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario

American National Standards Institute （ANSI), Balanza electrónica semimicro

• ANSI/UL 466-2004 Básculas Eléctricas y Accesorios (Propuesta del 16/05/08)
• ANSI/ASTM D7739:2011 Práctica para la medición de la estabilidad térmica oxidativa mediante una microbalanza de cristal de cuarzo

CN-STDBOOK, Balanza electrónica semimicro

• 圖書 a-4505 Guía de Verificación y Mantenimiento de Instrumentos de Medición Balanza Electrónica

British Standards Institution (BSI), Balanza electrónica semimicro

• BS EN 62047-5:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Conmutadores MEMS RF
• BS EN 62047-19:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Brújulas electrónicas
• BS EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Dispositivos microelectromecánicos.
• BS EN 62047-4:2010 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Especificación genérica para MEMS
• BS ISO 13067:2011 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Medición del tama?o medio de grano.
• BS ISO 13067:2020 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Medición del tama?o medio de grano.
• BS EN IEC 62037-6:2022 Cambios rastreados. Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en antenas.
• BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.
• BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
• BS EN 62047-9:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
• BS EN 62047-10:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Prueba de compresión de micropilares para materiales MEMS
• BS EN 62047-9:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
• 19/30365236 DC BS ISO 13067. Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Medición del tama?o medio de grano.
• PD IEC TR 62240-2:2018 Gestión de procesos para aviónica. Capacidad de componentes electrónicos en funcionamiento. Vida útil del microcircuito semiconductor.
• BS EN 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en antenas.
• BS ISO 23833:2013 Análisis de microhaces. Vocabulario del microanálisis con sonda electrónica (EPMA)
• BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
• DD IEC/TS 62564-1:2009 Componente electrónico calificado aeroespacial (AQEC) - Parte 1: Microcircuitos

Association Francaise de Normalisation, Balanza electrónica semimicro

• NF X21-014:2012 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tama?o medio de grano.
• NF EN 62047-19:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 19: brújulas electrónicas
• NF EN 3830:2022 Serie aeroespacial - Red eléctrica - Balance eléctrico
• NF C96-050-19*NF EN 62047-19:2014 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: brújulas electrónicas.
• NF EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 7: dispositivos microelectromecánicos.
• NF C96-435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: dispositivos microelectromecánicos.
• NF C96-050-5*NF EN 62047-5:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 5: Conmutadores MEMS de RF.
• NF C93-557-6*NF EN 62037-6:2014 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 6: medición de la intermodulación pasiva en antenas.
• NF C96-050-10*NF EN 62047-10:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 10: prueba de compresión de micropilares para materiales MEMS
• NF C93-557-6*NF EN IEC 62037-6:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación. Parte 6: medición de la intermodulación pasiva en antenas.
• NF X21-009:2008 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario.
• NF EN IEC 62037-6:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida del nivel de intermodulación - Parte 6: medida de la intermodulación pasiva en antenas

International Organization for Standardization (ISO), Balanza electrónica semimicro

• ISO 13067:2011 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tama?o medio de grano
• ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
• ISO 13067:2020 Análisis de microhaces. Difracción de retrodispersión de electrones. Medición del tama?o medio de grano.
• ISO 23833:2013 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario
• ISO 23833:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario
• ISO 333:1996 Carbón - Determinación de nitrógeno - Método semimicro Kjeldahl

German Institute for Standardization, Balanza electrónica semimicro

• DIN ISO 13067:2021-08 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tama?o medio de grano (ISO 13067:2020)
• DIN EN 62047-19:2014-04 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: Brújulas electrónicas (IEC 62047-19:2013); Versión alemana EN 62047-19:2013
• DIN ISO 13067:2015 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tama?o medio de grano (ISO 13067:2011)
• DIN ISO 13067:2021 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tama?o medio de grano (ISO 13067:2020)
• DIN EN 2547:1989 Serie aeroespacial; filmación de documentos; microfilm de 105 mm (microficha A6); versión alemana EN 2547:1987

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu), Balanza electrónica semimicro

• DIN ISO 13067 E:2021-01 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tama?o medio de grano
• DIN EN 62047-19 E:2011-11 Componentes semiconductores - componentes de la tecnología de microsistemas - Parte 19: Brújulas electrónicas

國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局, Balanza electrónica semimicro

• SN/T 4095.2-2017 Especificaciones de verificación electrónica del período de saldo

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Balanza electrónica semimicro

• JEDEC JEB5-A-1970 Métodos de medición para microcircuitos de activación lógica de semiconductores
• JEDEC JEB15-1969 Terminología y métodos de medición para microcircuitos semiconductores biestables

Danish Standards Foundation, Balanza electrónica semimicro

• DS/EN 62047-19:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: Brújulas electrónicas.
• DS/EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos.
• DS/EN 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas

SCC, Balanza electrónica semimicro

• DANSK DS/EN 62047-19:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: Brújulas electrónicas.
• CEI EN 62047-19:2014 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: Brújulas electrónicas.
• DANSK DS/EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos.
• CEI EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos.
• DIN EN 62564-1 E:2010 Borrador de documento - Componente electrónico calificado aeroespacial (AQEC) - Parte 1: Microcircuitos y semiconductores discretos (IEC 107/128/CD:2010)
• DANSK DS/EN IEC 62037-6:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación – Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
• 10/30195133 DC BS ISO 13067. Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Medición del tama?o medio de grano.
• CEI EN IEC 62037-6:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida del nivel de intermodulación Parte 6: Medida de la intermodulación pasiva en antenas
• BS PD IEC TR 62240-2:2018 Gestión de procesos para aviónica. Capacidad de los componentes electrónicos en funcionamiento: vida útil del microcircuito semiconductor
• BS ISO 23833:2006 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica (EPMA). Vocabulario
• CEI EN 62037-6:2014 Dispositivos pasivos de rf y microondas, medición del nivel de intermodulación Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
• DANSK DS/EN 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación – Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
• DIN EN IEC 62435-7:2022 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos (IEC 62435-7:2020); Versión alemana EN IEC 62435-7:2021
• 11/30249344 DC BS EN 62047-19. Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19. Brújulas electrónicas
• BS DD IEC/TS 62564-1:2009 Componente electrónico calificado aeroespacial (AQEC) -Parte 1: Microcircuitos

ES-UNE, Balanza electrónica semimicro

• UNE-EN 62047-19:2013 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 19: Brújulas electrónicas (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)
• UNE-EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos - Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores - Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos (Ratificada por la Asociación Espa?ola de Normalización en abril de 2021.)
• UNE-EN IEC 62037-6:2022 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Balanza electrónica semimicro

• EN 62047-19:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 19: Brújulas electrónicas.
• EN IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos.
• EN 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas

Group Standards of the People's Republic of China, Balanza electrónica semimicro

• T/CECA 48-2021 Elemento de microbalanza de cristal de cuarzo

International Electrotechnical Commission (IEC), Balanza electrónica semimicro

• IEC 62435-7:2020 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos.
• IEC 62047-5:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 5: Conmutadores MEMS de RF
• IEC 62047-5:2011/COR1:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 5: Conmutadores MEMS de RF; Corrección 1
• IEC 62037-6:2021 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
• IEC 62037-6:2021 RLV Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Balanza electrónica semimicro

• JIS C 5630-19:2014 Dispositivos semiconductores -- Dispositivos microelectromecánicos -- Parte 19: Brújulas electrónicas

PH-BPS, Balanza electrónica semimicro

• PNS IEC 62435-7:2021 Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos.

European Committee for Standardization (CEN), Balanza electrónica semimicro

• EN 2499:1987 Computadoras Salida Microficha (COM) Microficha A6

PT-IPQ, Balanza electrónica semimicro

• NP 3081-1985 COMPONENTES ELECTR?NICOS Inspec??o de pastilhas^de semicondutores em microscópio electrónico de varrimento Especifica??o de base

PL-PKN, Balanza electrónica semimicro

• PN T04813-1971 ?Bajo consumo electrónico? ?ubet M?Hiod de m?a?ur?men? de micropkonic noiic whh aicHation tocando
• PN-EN IEC 62435-7-2021-08 E Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos semiconductores electrónicos. Parte 7: Dispositivos microelectromecánicos (IEC 62435-7:2020).

CZ-CSN, Balanza electrónica semimicro

• CSN 35 8737-1975 Dispositivos semiconductores. Diodos. Medición de rosistanoe diferencial.

IEC - International Electrotechnical Commission, Balanza electrónica semimicro

• IEC 62047-19:2013 Dispositivos de semiconductores – Dispositivos microélectromécaniques – Parte 19: Compas électroniques (Edición 1.0)

SAE - SAE International, Balanza electrónica semimicro

• SAE AMS2690B-1988 Interconexiones microelectrónicas de soldadura en paralelo a sustratos de película delgada
• SAE AMS2690D-2017 Interconexiones microelectrónicas de soldadura en paralelo a sustratos de película delgada

Chongqing Provincial Standard of the People's Republic of China, Balanza electrónica semimicro

• DB50/T 540-2014 Medidor de flujo de gas másico térmico microelectrónico

Society of Automotive Engineers (SAE), Balanza electrónica semimicro

• SAE AMS2690A-1982 SOLDADURA EN PARALELO Interconexiones microelectrónicas a sustratos de película delgada
• SAE AMS2690C-2011 Interconexiones microelectrónicas de soldadura en paralelo a sustratos de película delgada
• SAE AMS2690C-2001 Soldadura de espacios en paralelo, interconexiones microelectrónicas a sustratos de película delgada
• SAE AMS2690B-1993 SOLDADURA EN PARALELO Interconexiones microelectrónicas a sustratos de película delgada

KR-KS, Balanza electrónica semimicro

• KS D ISO 23833-2018 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Balanza electrónica semimicro

• KS D ISO 23833:2018 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
• KS D ISO 14595:2012 Análisis de microhaces-Microanálisis con sonda electrónica-Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)

Professional Standard - Meteorology, Balanza electrónica semimicro

• QX/T 307-2015 Método de observación de la concentración de masa de aerosol atmosférico. Microbalanza oscilante de elemento cónico

AENOR, Balanza electrónica semimicro

• UNE-EN 62037-6:2015 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas

SE-SIS, Balanza electrónica semimicro

• SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Balanza electrónica semimicro

• ASHRAE 4256-1999 Mediciones de emisiones de compuestos orgánicos volátiles (COV) de tintes para madera mediante una balanza electrónica

Professional Standard - Agriculture, Balanza electrónica semimicro

• GB 2905-1982 Determinación de proteína cruda en semillas de cultivos de cereales y frijol (método semimicro Kjeldahl)
• NY/T 3-1982 Método para la determinación de proteína cruda en semillas de cereales y frijoles (método semi-micro kjeldahl)

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Balanza electrónica semimicro

• CNS 14741-2007 Medidor de gas tipo diafragma con microcomputadoras para uso de gas natural
• CNS 14741-2003 Medidor de gas tipo diafragma con microcomputadoras para uso de gas natural
• CNS 12865-11-2005 Mediciones de margen de ruido para dispositivos microelectrónicos digitales.
• CNS 12865.11-2005 Mediciones de margen de ruido para dispositivos microelectrónicos digitales.

Defense Logistics Agency, Balanza electrónica semimicro

• DLA SMD-5962-90512-1992 MICROCIRCUITO, DIGITAL, HMOS, MICROCOMPUTADORA DE 8 BITS, SILICIO MONOLíTICO

American Society for Testing and Materials (ASTM), Balanza electrónica semimicro

• ASTM B808-10 Método de prueba estándar para el monitoreo de cámaras de corrosión atmosférica mediante microbalanzas de cristal de cuarzo

RU-GOST R, Balanza electrónica semimicro

• GOST 18986.14-1985 Diodos semiconductores. Métodos para medir resistencias diferenciales y de pendiente.

U.S. Military Regulations and Norms, Balanza electrónica semimicro

• ARMY MIL-S-52156 D-1988 SET DE LEVANTAMIENTO, MICROONDAS ELECTRóNICOS PARA MEDICIóN DE DISTANCIAS

TR-TSE, Balanza electrónica semimicro

• TS 362-1966 DETERMINACIóN DEL NITRóGENO DEL CARBóN MEDIANTE EL MéTODO SEMI ■ M?KRO KJELDAHL

工業(yè)和信息化部, Balanza electrónica semimicro

• YD/T 2827.6-2015 Métodos para medir niveles de intermodulación pasiva de dispositivos de radiofrecuencia y microondas para comunicaciones inalámbricas Parte 6: Antenas

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