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分光計の性能パラメータ

分光計の性能パラメータは全部で 163 項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)に関連している。

分光計の性能パラメータ 國際標(biāo)準(zhǔn)分類において、これらの分類：分析化學(xué)、 光學(xué)および光學(xué)測定、 放射線測定、 光ファイバー通信、 光學(xué)機(jī)器、 計測學(xué)と測定の総合、 水質(zhì)、 包括的なテスト條件と手順、 原子力工學(xué)、 語彙、 総合電子部品、 オプトエレクトロニクス、レーザー裝置、 長さと角度の測定、 非破壊検査、 石炭。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 分光計の性能パラメータ

• KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化學(xué)分析用のX線光電子分光計のいくつかの性能パラメータの説明
• KS D ISO 15470-2020 表面化學(xué)分析－X線光電子分光法－選択された機(jī)器性能パラメータの説明
• KS D ISO 15470:2005 表面化學(xué)分析、X 線光電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• KS D ISO 15471:2005 表面化學(xué)分析、オージェ電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• KS D ISO 15471-2020 表面化學(xué)分析－オージェ電子分光法－選択された機(jī)器性能パラメータの説明
• KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化學(xué)分析 - オージェ電子分光法 - 選択された機(jī)器の性能パラメータの説明
• KS D ISO 15632:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機(jī)器性能パラメーターの仕様と検査
• KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) 光増幅器の試験方法 パート 3-1: 雑音指數(shù)パラメータ スペクトル アナライザによる方法
• KS C IEC 61290-3-1-2020 光増幅器－試験方法－その3－1：雑音指數(shù)パラメータ－光スペクトラムアナライザ法
• KS C IEC 61290-3-1:2005 光ファイバ増幅器、試験方法、パート 3-1: ノイズデジタルパラメータ、スペクトルアナライザ法
• KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) 光増幅器の試験方法 パート 5-1: 反射パラメータ スペクトル アナライザ法
• KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) 光増幅器の試験方法 パート 5-1: 反射パラメータ スペクトル アナライザ法
• KS D ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析 X線光電子分光裝置とオージェ電子分光裝置 強(qiáng)度スケールの直線性
• KS C IEC 61290-5-1-2022 光増幅器－試験方法－第5部－1：反射率パラメータ－光スペクトラムアナライザ法
• KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學(xué)分析 X線光電子分光裝置およびオージェ電子分光裝置の強(qiáng)度スケールの直線性
• KS C IEC 61290-3-2-2020 光増幅器－その3－2：雑音指數(shù)パラメータの試験方法－電気スペクトラムアナライザ法
• KS C IEC 61290-3-2-2005(2020) 光増幅器の試験方法 - パート 3-2: ノイズ指數(shù)パラメータ - 電気スペクトラム アナライザを使用した方法
• KS C IEC 61290-10-1-2005(2020) 光増幅器の試験方法 第10-1部：多チャンネルパラメトリック光スイッチおよびスペクトラムアナライザパルス法

International Organization for Standardization (ISO), 分光計の性能パラメータ

• ISO 15470:2017 表面化學(xué)分析、X 線光電子分光法、機(jī)器の性能パラメーターの説明
• ISO 15470:2004 表面化學(xué)分析、X 線光電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• ISO 15471:2004 表面化學(xué)分析、オージェ電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• ISO 15471:2016 表面化學(xué)分析、オージェ電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X線光電子分光裝置とオージェ電子分光裝置 強(qiáng)度スケールの直線性
• ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光裝置の日常的な性能評価手順
• ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 分光計の性能パラメータ

• GB/T 28892-2024 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光法 選択された機(jī)器の性能パラメータの表現(xiàn)
• GB/T 28892-2012 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光法 選択された機(jī)器の性能パラメーターの表現(xiàn)
• GB/T 32266-2015 原子蛍光分析裝置の性能測定方法
• GB/T 25187-2010 表面化學(xué)分析、オージェ電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメータの表現(xiàn)
• GB/T 31364-2015 エネルギー分散型蛍光X線分析裝置の主な性能試験方法
• GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法 電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計
• GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強(qiáng)度スケールの直線性
• GB/T 33252-2016(英文版) ナノテクノロジーレーザー共焦點(diǎn)ラマン顕微鏡の性能試験
• GB/T 33252-2016 ナノテクノロジーレーザー共焦點(diǎn)ラマン顕微鏡の性能試験
• GB/T 25189-2010 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡エネルギー分光計の定量分析パラメータの決定方法

SCC, 分光計の性能パラメータ

• BS ISO 15470:2004 表面化學(xué)分析。 X線光電子分光法。 選択された楽器の演奏パラメータの説明
• 11/30199190 DC BS ISO 15632. マイクロビーム分析。 電子プローブマイクロ分析で使用するエネルギー分散型X線分光計の仕様と検査のための機(jī)器性能パラメータ
• BS ISO 15471:2004 表面化學(xué)分析。 オージェ電子分光法。 選択された楽器の演奏パラメータの説明
• BS DD IEC/PAS 61290-3-1:2002 光ファイバー増幅器。 基本仕様。 雑音指數(shù)パラメータの試験方法 - 光スペクトルアナライザ
• BS EN 61290-2-1:1998 光ファイバー増幅器。 基本仕様 - 光パワーパラメータのテスト方法。 光スペクトルアナライザ
• DANSK DS/EN 61290-3-1:2003 光増幅器 - 試験方法 - パート 3-1: 雑音指數(shù)パラメータ - 光スペクトル アナライザ法
• BS EN 61290-5-1:2000 光ファイバー増幅器。 基本仕様。 反射率パラメータの試験方法 - 光スペクトラムアナライザ
• BS EN 61290-2-2:1998 光ファイバー増幅器。 基本仕様 - 光パワーパラメータのテスト方法。 電気スペクトルアナライザ
• DIN ISO 15632 E:2015 文書草案 - マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析で使用するエネルギー分散型 X 線分光計の仕様とチェックのための機(jī)器性能パラメータ (ISO 15632:2012)。 ドイツ語と英語のテキスト
• DANSK DS/EN 61290-5-1:2006 光増幅器 - 試験方法 - パート 5-1: 反射率パラメータ - 光スペクトラム アナライザ法
• CEI EN 61290-5-1:2007 光増幅器 - 試験方法 - パート 5-1: 反射率パラメータ - 光スペクトラム アナライザ法
• IEC PAS 61290-3-1:2002 光ファイバ増幅器 基本仕様 第3-1部 雑音指數(shù)パラメータの試験方法 光スペクトラムアナライザ
• CEI EN 61290-1-1:2015 光アンプ - テスト方法 - パート 1: パワーとゲインのパラメータ - 光スペクトラム アナライザの方法
• DANSK DS/EN 61290-1-1:2015 光アンプ – テスト方法 – パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータ – 光スペクトラムアナライザ法
• DANSK DS/EN IEC 61290-1-1:2020 光アンプ – テスト方法 – パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータ – 光スペクトラムアナライザ法
• CEI EN IEC 61290-1-1:2021 光増幅器 - 試験方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータ - 光スペクトラム アナライザ方法
• BS EN 61290-1-2:1998 光ファイバー増幅器。 基本仕様 - ゲインパラメータのテスト方法。 電気スペクトラムアナライザ
• DANSK DS/EN 61290-3-2:2008 光増幅器 - 試験方法 - パート 3-2: 雑音指數(shù)パラメータ - 電気スペクトラム アナライザ法
• CEI EN 61290-3-2:2010 光増幅器の試験方法 - パート 3-2: 雑音指數(shù)パラメータ - 電気スペクトラム アナライザの方法

British Standards Institution (BSI), 分光計の性能パラメータ

• BS ISO 15470:2005 表面化學(xué)分析、X 線光電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• BS ISO 15470:2017 表面化學(xué)分析、X 線光電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• BS ISO 15471:2005 表面化學(xué)分析、オージェ電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• BS EN 61290-5-1:2006 光ファイバ増幅器、テスト方法、反射パラメータ、スペクトルアナライザ方法
• BS ISO 15471:2016 表面化學(xué)分析用のオージェ電子分光法用に選択された機(jī)器の性能パラメーターの説明
• BS ISO 15632:2012 マイクロビーム分析：電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用に選択された機(jī)器の仕様と性能パラメータ
• BS ISO 15632:2021 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用のマイクロビーム分析仕様および選択された機(jī)器性能パラメータ
• BS EN IEC 61290-1-1:2020 光アンプのテスト方法 パワーとゲインのパラメータ スペクトラム アナライザの方法
• BS EN 61290-3-1:2003(2004) 光増幅器 - テスト方法 パート 3-1: 雑音指數(shù)パラメータ - スペクトル アナライザの方法
• BS EN 61290-10-2:2008 光増幅器、テスト方法、マルチチャネルパラメータ、ゲートスペクトラムアナライザパルス法
• BS EN 61290-10-2:2009 光アンプ試験法 マルチチャネルパラメータゲートスペクトラムアナライザパルス法
• BS EN 61290-3-1:2003 光ファイバ増幅器 基本仕様 ノイズのデジタルパラメータの試験方法 スペクトラムアナライザ法
• BS EN 61290-3-1:2004 光ファイバアンプ基本仕様 ノイズデジタルパラメータ試験方法 スペクトラムアナライザ方法
• BS ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光裝置の日常的な性能評価手順
• BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學(xué)分析X線光電子分光裝置およびオージェ電子分光裝置強(qiáng)度スケールの直線性
• BS ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強(qiáng)度スケールの直線性
• BS ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光裝置の日常的な性能評価手順
• BS EN 61290-10-2:2003 光ファイバ増幅器、テスト方法、マルチチャネルパラメータ、ゲート光スペクトラムアナライザパルス法
• 19/30394914 DC BS ISO 15632 マイクロビーム分析 電子プローブ顕微鏡または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) 用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用の仕様および選択された機(jī)器性能パラメータ
• BS EN 61290-10-4:2007 光増幅器、テスト方法、マルチチャネルパラメータ、光スペクトラムアナライザを使用した補(bǔ)間光源低減方法。
• BS EN 61290-3-2:2003 光ファイバ増幅器 基本仕様 雑音指數(shù)パラメータの試験方法 電気スペクトラムアナライザ法

Standard Association of Australia （SAA）, 分光計の性能パラメータ

• AS ISO 15470:2006(R2016) 表面化學(xué)分析 - X 線光電子分光法 - 選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• AS ISO 15470:2006 表面化學(xué)分析。 X線光電子分光法。 選択した機(jī)器のパフォーマンスパラメータの説明

German Institute for Standardization, 分光計の性能パラメータ

• DIN ISO 15632:2022-09 エネルギー分散型 X 線分光計の仕様と検査のための、選択された機(jī)器の性能パラメータのマイクロビーム分析
• DIN EN IEC 61290-1-1:2022 光ファイバ増幅器の試験方法 パート 1 1: 光學(xué)性能と利得パラメータ スペクトラム アナライザの方法
• DIN EN 61290-3-1:2004 光増幅器. 試験方法. パート 3-1: ノイズ指數(shù)パラメータ. スペクトル アナライザー方法
• DIN EN 61290-3-1:2004-05 光増幅器の試験方法 パート 3-1: 雑音指數(shù)パラメトリック スペクトラム アナライザの方法
• DIN EN 61290-5-1:2007 光ファイバ増幅器、テスト方法、パート 5-1: 反射パラメータ、スペクトル アナライザ
• DIN 5030-1:1985 放射線のスペクトル測定、用語、量、特性パラメータ
• DIN EN 61290-5-1:2007-03 光増幅器の試験方法 パート 5-1: 反射率パラメータ スペクトル アナライザ法
• DIN ISO 16129:2020-11 表面化學(xué)分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光裝置の日常的な性能評価手順
• DIN EN 61290-1-1:2007 光ファイバ増幅器 テスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲインパラメータ スペクトルアナライザ法
• DIN ISO 16129 E:2020-01 表面化學(xué)分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的なパフォーマンスを評価する手順

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 分光計の性能パラメータ

• JIS K 0162:2010 表面化學(xué)分析、X 線光電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• JIS K 0161:2010 表面化學(xué)分析、オージェ電子分光法、選択された機(jī)器性能パラメーターの説明
• JIS C 6122-3-1:2011 光増幅器、試験方法、パート 3-1: ノイズ指數(shù)パラメータ、光スペクトラム アナライザの方法

Professional Standard - Machinery, 分光計の性能パラメータ

• JB/T 8231-1999 平面格子分光器の基本パラメータ系列
• JB/T 6176-1992 分光器用感光板カセットとカセットフレームの基本パラメータ
• JB/T 9346-1999 ゴニオメーター（分光計）の基本パラメータ
• JB/T 6266-1992 光學(xué)式ゴニオコンパレータ 基本パラメータ
• JB/T 9330-1999 光學(xué)機(jī)器用可変光學(xué)系の基本パラメータ

RU-GOST R, 分光計の性能パラメータ

• GOST 26874-1986 電離放射線エネルギー分析裝置 基本パラメータの決定方法
• GOST 17173-1981 分光器のギャップと付屬品 基本的なパラメータと寸法 技術(shù)的要件
• GOST 25678-1983 パルスレーザーエネルギー測定器の種類基本パラメータ基本パラメータの測定方法
• GOST R 52205-2004 硬炭 元のパラメータとプロセスパラメータの分光分析による測定

CZ-CSN, 分光計の性能パラメータ

• CSN 35 6535-1983 電子測定器。 連続プロセススペクトラムアナライザ。 パラメータの命名

Group Standards of the People's Republic of China, 分光計の性能パラメータ

• T/CAIA YQ004-2018 原子蛍光分析と組み合わせた液體クロマトグラフィーの性能試験方法
• T/CSTM 00964-2022 原子分光裝置の性能評価の一般原則
• T/CAIA YQ003-2016 分光器用リニアアレイCCDの光電性能の一般的な試験方法
• T/CSTM 00962-2022 火花放電発光分析裝置の性能評価方法

GSO, 分光計の性能パラメータ

• GSO ISO 10260:2013 水質(zhì) -- パラメータの測定 -- クロロフィル A 濃度の分光測定
• OS GSO ISO 15632:2015 マイクロビーム分析 -- 電子プローブ微量分析で使用するエネルギー分散型 X 線分光計の仕様とチェック用に選択された機(jī)器性能パラメーター
• BH GSO ISO 15632:2017 マイクロビーム分析 -- 電子プローブ微量分析で使用するエネルギー分散型 X 線分光計の仕様とチェック用に選択された機(jī)器性能パラメーター
• OS GSO IEC 61290-3-1:2014 光増幅器 - 試験方法 - パート 3-1: 雑音指數(shù)パラメータ - 光スペクトラム アナライザ法
• GSO IEC 61290-5-1:2014 光増幅器 - 試験方法 - パート 5-1: 反射率パラメータ - 光スペクトラム アナライザ法
• BH GSO IEC 61290-3-1:2016 光増幅器 - 試験方法 - パート 3-1: 雑音指數(shù)パラメータ - 光スペクトラム アナライザ法
• GSO ISO 15470:2013 表面化學(xué)分析 -- X 線光電子分光法 -- 選択された機(jī)器性能パラメータの説明
• OS GSO ISO 21270:2014 表面化學(xué)分析 -- X線光電子分光裝置およびオージェ電子分光裝置 -- 強(qiáng)度スケールの直線性
• BH GSO ISO 21270:2016 表面化學(xué)分析 -- X線光電子分光裝置およびオージェ電子分光裝置 -- 強(qiáng)度スケールの直線性
• GSO ISO 21270:2014 表面化學(xué)分析 -- X線光電子分光裝置およびオージェ電子分光裝置 -- 強(qiáng)度スケールの直線性
• OS GSO ISO 16129:2014 表面化學(xué)分析 -- X 線光電子分光法 -- X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する手順
• BH GSO ISO 16129:2015 表面化學(xué)分析 -- X 線光電子分光法 -- X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する手順
• GSO IEC 61290-3-1:2014 光増幅器 - 試験方法 - パート 3-1: 雑音指數(shù)パラメータ - 光スペクトラム アナライザ法
• BH GSO IEC 61290-1-1:2016 光増幅器 - 試験方法 - パート 1-1: パワーおよびゲインのパラメータ - 光スペクトラム アナライザの方法
• OS GSO IEC 61290-1-1:2013 光増幅器 - 試験方法 - パート 1-1: パワーおよびゲインのパラメータ - 光スペクトラム アナライザの方法
• GSO IEC 61290-1-1:2013 光増幅器 - 試験方法 - パート 1-1: パワーおよびゲインのパラメータ - 光スペクトラム アナライザの方法

KR-KS, 分光計の性能パラメータ

• KS D ISO 15632-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析用のエネルギー分散型 X 線分光計の選択された機(jī)器性能パラメーターの仕様と検査
• KS D ISO 15632-2023 マイクロビーム分析: 走査型電子顕微鏡 (SEM) または電子プローブ マイクロアナライザー (EPMA) で使用するエネルギー分散型 X 線分光計 (EDS) の選択された機(jī)器性能パラメーターの仕様と検査

Professional Standard - Agriculture, 分光計の性能パラメータ

• GB/T 44147-2024 液體クロマトグラフィーおよび原子蛍光分光法の性能試験方法

International Electrotechnical Commission (IEC), 分光計の性能パラメータ

• IEC 61290-1-2:2005 光増幅器. 試験方法. パート 1-2: 光パワーパラメータと利得パラメータ. 電気スペクトラムアナライザ方法
• IEC 61290-3-1:2003 光増幅器、試験方法、パート 3-1: ノイズデジタルパラメータ、スペクトルアナライザ方法
• IEC 61290-1-1:2020 RLV 光増幅器. テスト方法. パート 1-1: パワーとゲインのパラメータ. スペクトル アナライザー方法
• IEC 61290-1-1:2020 光アンプ - テスト方法 - パート 1-1: パワーおよびゲインのパラメータ - スペクトラム アナライザの方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 分光計の性能パラメータ

• ASTM E1683-02(2014)e1 走査型ラマン分光計の性能に関する標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• ASTM E1866-97 分光計性能試験の標(biāo)準(zhǔn)ガイドラインの確立
• ASTM E1866-97(2002) 分光計性能試験の標(biāo)準(zhǔn)ガイドラインの確立
• ASTM E1866-97(2007) 分光計性能試験の標(biāo)準(zhǔn)ガイドラインの確立
• ASTM E996-04 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標(biāo)準(zhǔn)的な方法
• ASTM E996-10 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標(biāo)準(zhǔn)的な方法
• ASTM E1683-02(2022) 走査型ラマン分光計の性能試験の標(biāo)準(zhǔn)的な手法

Association Francaise de Normalisation, 分光計の性能パラメータ

• NF C93-805-1-2*NF EN 61290-1-2:2006 光増幅器. 試験方法. パート 1-2: 光パワーパラメータと利得パラメータ. 電気スペクトラムアナライザ方法
• NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 光増幅器の試験方法 パート 3-1: ノイズ デジタル パラメータ スペクトラム アナライザ方法
• NF EN 61290-3-1:2004 光増幅器の試験方法 パート 3-1: 雑音指數(shù)パラメトリック スペクトラム アナライザの方法
• NF EN 61290-5-1:2006 光増幅器の試験方法 パート 5-1: 反射率パラメータ スペクトル アナライザ法
• NF EN 61290-3-2:2009 光増幅器の試験方法 パート 3-2: 雑音指數(shù)パラメトリック電気スペクトラム アナライザ方法
• NF EN IEC 61290-1-1:2020 光アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザの方法
• NF C93-805-1-1:2020 光増幅器. テスト方法. パート 1-1: パワーとゲインのパラメータ. スペクトル アナライザー方法
• NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 光アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザの方法
• NF C93-805-2-1:1998 光ファイバ増倍管 基本仕様 パート 2-1: 光電子パラメータの試験方法 光スペクトラム アナライザ

Danish Standards Foundation, 分光計の性能パラメータ

• DS/EN 61290-3-1:2004 光増幅器の試験方法 パート 3-1: 雑音指數(shù)パラメトリック スペクトラム アナライザの方法
• DS/EN 61290-5-1:2006 光増幅器の試験方法 パート 5-1: 反射パラメータ スペクトル アナライザ法
• DS/EN IEC 61290-1-1:2020 光増幅器のテスト方法のパート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザ方法
• DS/EN 61290-1-1:2007 光アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザの方法

Spanish Association for Standardization (UNE), 分光計の性能パラメータ

• UNE-EN 61290-3-1:2003 光増幅器の試験方法 パート 3-1: 雑音指數(shù)パラメトリック スペクトラム アナライザの方法
• UNE-EN 61290-1-1:2015 光アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザの方法
• UNE-EN IEC 61290-1-1:2020 光アンプのテスト方法 パート 1-1: パワーおよびゲイン パラメータのスペクトラム アナライザの方法
• UNE-EN 61290-3-2:2008 光増幅器の試験方法 パート 3-2: 雑音指數(shù)パラメトリック電気スペクトラム アナライザ方法

Professional Standard - Electron, 分光計の性能パラメータ

• SJ/Z 3206.3-1989 発光スペクトル分析用の機(jī)器とその性能要件

South African Bureau of Standard, 分光計の性能パラメータ

• SANS 61290-5-1:2007 光増幅器、試験方法、パート 5-1: 反射パラメータ、スペクトル アナライザー方法

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 分光計の性能パラメータ

• GJB 8361-2015 軍用レーザー出力エネルギー試験裝置のパラメータ試験方法
• GJB 2740-1996 パルスレーザー距離計パラメータシリーズ

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu), 分光計の性能パラメータ

• JIS C 6122-1-1:2024 光増幅器-試験方法-パート 1-1: パワーとゲインのパラメータ-光スペクトラム アナライザの方法

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Lithuanian Standards Office , 分光計の性能パラメータ

• LST EN 61290-3-1-2004 光増幅器試験方法 パート 3-1: 雑音指數(shù)パラメータ スペクトラム アナライザ方法 (IEC 61290-3-1:2003)

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