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ISO/FDIS 29301:2023
微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法

Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures


ISO/FDIS 29301:2023 發(fā)布歷史

ISO/FDIS 29301:2023由國際標(biāo)準(zhǔn)化組織 IX-ISO 發(fā)布于 2023-07。

ISO/FDIS 29301:2023在國際標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: 37.020 光學(xué)設(shè)備。

ISO/FDIS 29301:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法的最新版本是哪一版?

最新版本是 ISO/FDIS 29301:2023

ISO/FDIS 29301:2023的歷代版本如下:

  • 2023年 ISO/FDIS 29301:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法

 

標(biāo)準(zhǔn)號
ISO/FDIS 29301:2023
發(fā)布
2023年
發(fā)布單位
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
當(dāng)前最新
ISO/FDIS 29301:2023
 
 

專題


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