SEM，EDS，XRD的區別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個用于微區分析成分的配件——能譜儀。能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用于物相分析的檢測設備。...
常見的類型主要有3種：透射電鏡 TEM、掃描電鏡SEM以及反射電鏡REM。一、透射電子顯微鏡?TEM透射電子顯微鏡是電子顯微鏡的原始類型，它的主要原理是將高壓電子束引導至樣品以照亮樣品并產生樣品的放大圖像。由于透射電鏡具有原位觀察、高分辨顯像等功能，適宜觀察光學顯微鏡觀察不到的細微結構。比如：細胞、組織分析、晶體結構等。...
它具有制樣簡單、放大倍數可調、范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點。透射電子電子顯微鏡應用表現：1、晶體缺陷分析。一切破壞正常點陣周期的結構統稱為晶體缺陷，如空位、位錯、晶界、析出物等。這些破壞點陣周期性的結構都將導致其所在區域的衍射條件發生變化，使得缺陷所在區域的衍射條件不同于正常區域的衍射條件，從而在熒光屏上顯示出相應的明暗程度差別。2、組織分析。...
透射電子顯微鏡是電子顯微鏡的原始類型，它的主要原理是將高壓電子束引導至樣品以照亮樣品并產生樣品的放大圖像。由于透射電鏡具有原位觀察、高分辨顯像等功能，適宜觀察光學顯微鏡觀察不到的細微結構。比如：細胞、組織分析、晶體結構等。透射電鏡顯微成像原理是：通過鎢絲電極的陰極發射電子束，再用陽極加速電子束，當電子束穿過標本時，它會發生散射，并提供標本微觀結構的圖像，可以通過顯微鏡的物鏡觀察到。...
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