ASTM E2627-13
使用完全再結(jié)晶多晶材料中的電子背散射衍射 (EBSD) 測定平均粒徑的標準實施規(guī)程
Standard Practice for Determining Average Grain Size Using Electron Backscatter Diffraction (EBSD) in Fully Recrystallized Polycrystalline Materials
- 標準號
- ASTM E2627-13
- 發(fā)布
- 2013年
- 總頁數(shù)
- 10頁
- 發(fā)布單位
- 美國材料與試驗協(xié)會
- 替代標準
- ASTM E2627-13(2019)
- 當前最新
- ASTM E2627-13(2019)
- 引用標準
- ASTM E112 ASTM E1181 ASTM E1382 ASTM E177 ASTM E691 ASTM E7 ASTM E766
- 適用范圍
- 1.1 這種做法用于通過多晶材料的自動電子背散射衍射 (EBSD) 掃描對晶粒面積的測量來確定晶粒尺寸。
1.2 這種做法的目的是標準化自動 EBSD 儀器的操作，以直接從晶體取向測量 ASTM G。 E112 的指南和注意事項此處適用，但該標準的重點是 EBSD 實踐。
1.3 這種做法僅適用于完全再結(jié)晶的材料。
1.4 這種做法適用于任何能夠產(chǎn)生足夠質(zhì)量的 EBSD 圖案的晶體材料，可以使用自動索引軟件對高比例的圖案進行可靠索引。 1.5本實踐適用于任何類型的晶粒結(jié)構(gòu)或晶粒尺寸分布。 1.6 以 SI 單位表示的值被視為標準值。本標準不包含其他計量單位。
1.7 本標準并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任在使用前建立適當?shù)陌踩徒】祵嵺`并確定監(jiān)管限制的適用性。