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Grundaufbau des Elektronenmikroskops

Für die Grundaufbau des Elektronenmikroskops gibt es insgesamt 52 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Grundaufbau des Elektronenmikroskops die folgenden Kategorien: Optik und optische Messungen, Kohle, Prüfung von Metallmaterialien, Optische Ausrüstung, L?ngen- und Winkelmessungen, Luftqualit?t, analytische Chemie, Gefahrgutschutz, Mikroprozessorsystem, Anwendungen der Informationstechnologie, Mechanische Komponenten für elektronische Ger?te.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• GB/Z 21738-2008 Grundlegende Strukturen eindimensionaler Nanomaterialien. Charakterisierung durch hochaufl?sende Transmissionselektronenmikroskopie
• GB/Z 26083-2010 Bestimmung von Kupfer(Ⅱ)-octaakoxyl-substituiertem Phthalocyanin auf Graphitoberfl?che (Rastertunnelmikroskop)
• GB/T 28872-2012 Testmethode eines magnetischen Rasterkraftmikroskops mit leichtem Schlagmodus für die Nanotopographie lebender Zellen
• GB/T 5594.8-2015 Prüfverfahren für Eigenschaften von Strukturkeramik, die in elektronischen Bauteilen und Ger?ten verwendet werden. Teil 8: Prüfverfahren für die Mikrostruktur

Professional Standard - Machinery, Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• JB/T 5586-1991 Klassifizierung und Grundparameter des Transmissionselektronenmikroskops

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• JIS M 8816:1992 Feste mineralische Brennstoffe – Methoden der mikroskopischen Messung von Mazeralen und Reflexionsgrad

SE-SIS, Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

Association Francaise de Normalisation, Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• NF T25-111-4:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 4: Fraktographie mittels Rasterelektronenmikroskop

IT-UNI, Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• UNI 7329-1974 Elektronenmikroskopische Untersuchung metallischer Werkstoffe mittels Replikattechnik. Herstellung von Replikaten zur Mikrostrukturuntersuchung.

International Organization for Standardization (ISO), Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO 29301:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO/FDIS 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO 13095:2014 Chemische Oberfl?chenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird

未注明發(fā)布機構, Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• BS CECC 13:1985(1999) Harmonisiertes System zur Qualit?tsbewertung elektronischer Komponenten: Grundspezifikation: Rasterelektronenmikroskop-Inspektion von Halbleiterchips

British Standards Institution (BSI), Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• BS ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• BS ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• BS ISO 29301:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• BS ISO 13095:2014 Chemische Oberfl?chenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird

American Society for Testing and Materials (ASTM), Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• ASTM D5755-95 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Konzentrationen der Asbeststrukturzahl
• ASTM D5755-02 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Konzentrationen der Asbeststrukturzahl
• ASTM D5755-03 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie für die Strukturzahl-Oberfl?chenbeladung von Asbest
• ASTM D5755-09 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie für die Strukturzahl-Oberfl?chenbeladung von Asbest
• ASTM D5755-09(2014)e1 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie für die Strukturzahl-Oberfl?chenbeladung von Asbest
• ASTM D6480-05(2010) Standardtestmethode für Wischproben von Oberfl?chen, indirekte Vorbereitung und Analyse der Asbeststrukturzahlkonzentration durch Transmissionselektronenmikroskopie
• ASTM D6480-99 Standardtestmethode für Wischproben von Oberfl?chen, indirekte Vorbereitung und Analyse der Asbeststrukturzahlkonzentration durch Transmissionselektronenmikroskopie
• ASTM D6480-05 Standardtestmethode für Wischproben von Oberfl?chen, indirekte Vorbereitung und Analyse der Asbeststrukturzahlkonzentration durch Transmissionselektronenmikroskopie
• ASTM D6480-19 Standardtestmethode für Wischproben von Oberfl?chen, indirekte Vorbereitung und Analyse der Asbeststrukturzahl-Oberfl?chenbelastung durch Transmissionselektronenmikroskopie

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• GB/T 33839-2017 Methoden des Transmissionselektronenmikroskops für biologische Proben, die Kohlenstoffnanomaterialien mit biologischer Wirkung enthalten
• GB/T 34002-2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen

European Telecommunications Standards Institute (ETSI), Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• ETSI TR 102 438-2006 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen (ESI); Anwendung elektronischer Signaturstandards in Europa
• ETSI TS 102 734-2007 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen; Profile von CMS Advanced Electronic Signatures basierend auf TS 101 733 (CAdES)
• ETSI SR 002 176-2003 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen (ESI); Algorithmen und Parameter für sichere elektronische Signaturen
• ETSI TS 102 904-2007 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen; Profile von XML Advanced Electronic Signatures basierend auf TS 101 903 (XAdES) (V1.1.1)
• ETSI TR 102 153-2003 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen (ESI); Vorstudie zu Zertifikatsprofilen (V1.1.1)
• ETSI TR 102 272-2003 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen (ESI); ASN.1-Format für Signaturrichtlinien (V1.1.1)
• ETSI SR 003 232-2011 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen (ESI); PDF Advanced Electronic Signature Profiles (PAdES); Druckbare Darstellungen elektronischer Signaturen (V1.1.1)
• ETSI TS 101 456-2005 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen (ESI); Richtlinienanforderungen für Zertifizierungsstellen, die qualifizierte Zertifikate ausstellen V1.3.1
• ETSI TS 101 456-2006 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen (ESI); Richtlinienanforderungen für Zertifizierungsstellen, die qualifizierte Zertifikate ausstellen (V1.4.2)
• ETSI TR 102 038-2002 TC-Sicherheit – Elektronische Signaturen und Infrastrukturen (ESI); XML-Format für Signaturrichtlinien (V1.1.1)
• ETSI TR 102 045-2003 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen (ESI); Signaturrichtlinie für erweitertes Gesch?ftsmodell (V1.1.1)
• ETSI TS 102 778-2009 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen (ESI); PDF-Profile für erweiterte elektronische Signaturen; CMS-Profil basierend auf ISO 32000-1 (V1.1.1)
• ETSI TR 102 317-2004 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen (ESI); Prozess und Tools zur Wartung von ETSI-Ergebnissen (V1.1.1)
• ETSI TS 102 778-2-2009 Elektronische Signaturen und Infrastrukturen (ESI); PDF-Profile für erweiterte elektronische Signaturen; Teil 2: PAdES Basic – Profil basierend auf ISO 32000-1 (V1.2.1)

RU-GOST R, Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• GOST 25122-1982 Das einheitliche System elektronischer Computer. Basiskonstruktionen aus Hardware. Grundma?e
• GOST R 57720-2017 Informations- und Kommunikationstechnologien in der Bildung. Grundstruktur der E-Portfolio-Informationen
• GOST R 59631-2021 Grundlegende Tragstrukturen der dritten Ebene für station?re radioelektronische Mittel. Design und Abmessungen

Professional Standard - Electron, Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• SJ 20370-1993 Allgemeine Spezifikation für milit?rische elektronische Testger?te. Grundlegende Anforderungen für Design und Konstruktion

GOSTR, Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• GOST R 58240-2018 Niederspannungssysteme. Kabelsysteme. Horizontales Subsystem eines strukturierten Kabelsystems. Grundprinzipien
• GOST R 58241-2018 Niederspannungssysteme. Kabelsysteme. Backbone-Subsystem eines strukturierten Kabelsystems. Grundprinzipien

BELST, Grundaufbau des Elektronenmikroskops

• STB 2210-2011 Nanogro?e Kohlenstoff- und Nicht-Kohlenstoffmaterialien und darauf basierende Verbundwerkstoffe. Verfahren zur Bestimmung von Parametern mittels Rasterelektronenmikroskopie-Messungen
• STB 2209-2011 Nanogro?e Kohlenstoff- und Nicht-Kohlenstoffmaterialien und darauf basierende Verbundwerkstoffe. Die Technik zur Bestimmung der Elementzusammensetzung mithilfe von Rasterelektronenmikroskopie-Messungen

Sonstige:   Thixotropie. Bestimmung zeitabh?ngiger Struktur?nderungen. Grundlagen und Ringversuche, Bestimmung zeitabh?ngiger Strukturver?nderungen. Grundlagen und Ringversuche, Aufbau eines Transmissionselektronenmikroskops, Hochaufl?sende Transmissionselektronenmikroskopie-Detektionsmethode zur Grundstruktur eindimensionaler Nanomaterialien, Der Aufbau eines Elektronenmikroskops, Der Hauptaufbau eines Transmissionselektronenmikroskops, Grundlagen der Elektronenmikroskopie, Die Grundstruktur von, Der Aufbau der hochaufl?senden Transmissionselektronenmikroskopie, Grundaufbau des Mikroskops, Frame-Positionierung und zyklische Redundanz bezogen auf die in g.704 spezifizierte grundlegende Frame-Struktur ..., Grundaufbau des Elektronenmikroskops, Die Grundstruktur der Analyse-Engine.