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Estructura básica del microscopio electrónico.

Estructura básica del microscopio electrónico., Total: 28 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Estructura básica del microscopio electrónico. son: óptica y medidas ópticas., carbones, pruebas de metales, Química analítica, Equipo óptico.

GOST, Estructura básica del microscopio electrónico.

• GOST R 70626-2023 óptica y fotónica. Microscopios. Elementos estructurales básicos. Dimensiones

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Estructura básica del microscopio electrónico.

• GB/Z 21738-2008 Estructuras fundamentales de nanomateriales unidimensionales. Caracterización por microscopía electrónica de transmisión de alta resolución.

Professional Standard - Machinery, Estructura básica del microscopio electrónico.

• JB/T 5586-1991 Clasificación y parámetro básico del microscopio electrónico de transmisión.
• JB/T 5480-1991 Diafragma de microscopio electrónico.
• JB/T 5481-1991 Filamento de lámpara de microscopio electrónico.
• JB/T 9334-1999 Microscopios. La especificación fundamental para los filtros espectrales.

PL-PKN, Estructura básica del microscopio electrónico.

• PN N53053-1991 Microscopios. Oculares. Requisitos
• PN N53041-1989 Microscopía óptica Objetivos Requisitos básicos

RO-ASRO, Estructura básica del microscopio electrónico.

• STAS 7353/2-1975 MICROSCOPIOS Parámetros básicos
• STAS 7353/3-1982 MICROSCOPIOS Dimensiones mecánicas básicas
• STAS 7353/5-1982 MICROSCOPIOS Parámetros ópticos básicos
• STAS 6851/2-1975 MICROSCOPIOS Dimensiones ópticas básicas
• STAS 7353/4-1982 MICROSCOPIOS Dimensiones ópticas básicas

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Estructura básica del microscopio electrónico.

• JIS M 8816:1992 Combustibles minerales sólidos. Métodos de medición microscópica de los macerales y la reflectancia.
• JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.

SE-SIS, Estructura básica del microscopio electrónico.

• SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

Association Francaise de Normalisation, Estructura básica del microscopio electrónico.

• NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido

International Organization for Standardization (ISO), Estructura básica del microscopio electrónico.

• ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
• ISO/DIS 25498:2024 Análisis de microhaces-Microscopía electrónica analítica-Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
• ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
• ISO 29301:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia con estructuras periódicas
• ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas

IT-UNI, Estructura básica del microscopio electrónico.

• UNI 7329-1974 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microestructura.

GSO, Estructura básica del microscopio electrónico.

• GSO ISO 13095:2015 Análisis químico de superficies - Microscopía de fuerza atómica - Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
• OS GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
• BH GSO ISO 25498:2017 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
• GSO ISO 25498:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión

British Standards Institution (BSI), Estructura básica del microscopio electrónico.

• BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.

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